Radiační poškození vzorků v nízkovoltové transmisní elektronové mikroskopii

but.committeedoc. Ing. Radim Kolář, Ph.D. (předseda) Ing. Jan Odstrčilík, Ph.D. (místopředseda) Ing. Marina Filipenská, Ph.D. (člen) RNDr. Petr Fuchs, Ph.D. (člen) Ing. Jiří Sekora, MBA (člen)cs
but.defenceStudent prezentoval výsledky své práce a komise byla seznámena s posudky. Ing. Odstrčilík se zeptal na korekci nehomogenit. Doc. Kolář doplnil dotaz, zda se dá korekce odhadnout předem v závislosti na vlastnostech aparatury. Ing. Odstrčilík se zeptal, zda by práce šla použít pro stanovení bezpečných dávek pro různé vzorky. Ing. Ronzhina se zeptala zda metoda byla plně automatická, nebo bylo nutné některé kroky provádět ručně. Doc. Kolář se dotázal na časovou náročnost měření. Student obhájil diplomovou práci a odpověděl na otázky členů komise a oponenta.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programBiomedicínské inženýrství a bioinformatikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorKolář, Radimcs
dc.contributor.authorVykydal, Václavcs
dc.contributor.refereeOrságová, Evacs
dc.date.created2019cs
dc.description.abstractPráce je zaměřena na vliv radiačního poškození vzorků v nízkonapěťové transmisní elektronové mikroskopii. V práci se nachází obecný popis transmisních elektronových mikroskopů a jejich důležitých částí. Je zde popsán způsob poškození vzorků ozářených primárním svazkem elektronů, jak se připravují vzorky pro elektronovou mikroskopii a k jaké degradaci vzorků dochází z hlediska materiálu vzorku a časovému zatížení primárním elektronovým svazkem.cs
dc.description.abstractThis thesis is focused on Radiation damage of samples in low-voltage transmission electron microscopy. In thesis is general description of transmission electron microscopy and their important parts. There is described how samples are damaged by primary electron beam and how samples for transmission electron microscopy are prepared and which degradation occurs from the point of view materials of sample and time dose of electrons from primary electron beam.en
dc.description.markAcs
dc.identifier.citationVYKYDAL, V. Radiační poškození vzorků v nízkovoltové transmisní elektronové mikroskopii [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2019.cs
dc.identifier.other118354cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/177646
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectNízkonapěťová transmisní elektronová mikroskopiecs
dc.subjectRadiační poškození vzorkůcs
dc.subjectPrimární elektronový svazekcs
dc.subjectPříprava vzorků pro TEMcs
dc.subjectLow-voltage transmission electron Microscopyen
dc.subjectRadiation damage of samplesen
dc.subjectPrimary electron beamen
dc.subjectSample preparation for TEMen
dc.titleRadiační poškození vzorků v nízkovoltové transmisní elektronové mikroskopiics
dc.title.alternativeRadiation damage of samples in low-voltage transmission electron microscopyen
dc.typeTextcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs
dcterms.dateAccepted2019-06-05cs
dcterms.modified2019-06-06-11:40:41cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid118354en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.26 13:36:26en
sync.item.modts2025.01.17 13:48:48en
thesis.disciplineBiomedicínské inženýrství a bioinformatikacs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav biomedicínského inženýrstvícs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 3 of 3
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
2.16 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
appendix-1.rar
Size:
7.84 MB
Format:
Unknown data format
Description:
appendix-1.rar
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_118354.html
Size:
6.42 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_118354.html
Collections