Sledování rychlosti roztékání pájky po kovovém povrchu

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Růžička, Miroslav

Mark

A

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

ORCID

Abstract

Práce se zabývá sledováním rychlosti roztékání pájky po povrchových úpravách NiAu, OSP, Sn nanesených na Cu plátovaném základním materiálu FR4 pomocí digitálních kamer. Po procesu přetavení je měřena délka roztečení pájky a velikost smáčecího úhlu. Vyhodnocuje a porovnává časové závislosti rychlosti roztečení pájky, délky roztečení pájky a smáčecí úhel pro povrchové úpravy NiAu, OSP, Sn při různých teplotách přetavení a ošetření povrchu.
This work deals with flushing monitoring of spreading velocity on solder finishes Niau, OSP, Sn deposited on copper plated base material FR4 using digital cameras. After the reflow process is measured by length of spreading solder and size of wetting angle. It evaluates and compares the time dependence of velocity of spreading solder, length of solder spreading and wetting angle for NiAu, OSP, Sn finishes at different temperatures reflow and surface treatment.

Description

Citation

RŮŽIČKA, M. Sledování rychlosti roztékání pájky po kovovém povrchu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Elektrotechnická výroba a management

Comittee

prof. Ing. Jiří Vondrák, DrSc. (předseda) prof. Ing. Jiří Kazelle, CSc. (místopředseda) Ing. Jiří Špinka (člen) Ing. Martin Frk, Ph.D. (člen) Ing. Karel Pospíšil (člen)

Date of acceptance

2012-06-06

Defence

Diplomant seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením své diplomové práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: Jaký je vztah mezi úhlem smáčení a roztékavostí? Jaký typ plasmy jste použil?

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO