Měření teplotních profilů SMD pouzder
but.committee | doc. Ing. Ivan Szendiuch, CSc. (předseda) doc. Ing. Jan Maschke, CSc. (místopředseda) Ing. Michal Pavlík, Ph.D. (člen) Ing. Jan Prášek, Ph.D. (člen) | cs |
but.defence | Student Bc. Jaroslav Strapko seznámil komisi se svoji diplomovou prací na téma: Měření teplotních profilů SMD pouzder. Odpověděl na otázky oponenta - 1.) Co způsobuje teplotní gradient mezi deskou a součástkou a čím se jeho působení hodnotí? 2.) Jak by vypadal teplotní model pro Flip chip a to s výplní (underfill) a bez ní? Dále proběhla krátká rozprava k tématu diplomové práce. | cs |
but.jazyk | slovenština (Slovak) | |
but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Starý, Jiří | sk |
dc.contributor.author | Strapko, Jaroslav | sk |
dc.contributor.referee | Szendiuch, Ivan | sk |
dc.date.accessioned | 2019-04-04T03:33:53Z | |
dc.date.available | 2019-04-04T03:33:53Z | |
dc.date.created | 2010 | cs |
dc.description.abstract | Diplomová práca sa zaoberá predovšetkým tepelným manažmentom a jeho využitím pri výpočtoch teplotného profilu v peci pri použití rôznych typov puzdier SMD (PLCC, 1206) z hľadiska tepelných kapacít na testovacej DPS. Ukazuje predovšetkým teoretický postup výpočtu teplotného profilu v peci použitím známych výpočtových metód ako metóda sústredenej kapacity alebo metóda konečných diferencií. Porovnáva teoreticky získané hodnoty s nameranými. Diplomová práca ďalej rieši spôsoby upevnenia termočlánkov typu K na montážnu a prepojovaciu zostavu, porovnanie metód na základe známych a čiastkových experimentov, stanovuje chyby jednotlivých metód. Práca môže slúžiť ako teoretické, tak aj experimentálne východisko k predikcii teplotných profilov DPS s rôznymi zástavbovými hustotami. | sk |
dc.description.abstract | Diploma thesis mainly deals with temperature management and calculation of temperature profile in oven by using SMD packages (PLCC, 1206) of different thermal capacitance on testing PCB. Above all shows theoretical consecution of temperature profile calculation in oven by using known mathematical method like the lumped capacitance method or finite difference method. Theoretical solution and measured values are compared. Diploma thesis also deals with fixation methods of thermocouples K type on assembly, comparison methods based on known and subexperiment, determines the deficiencies of methods. This thesis can perform as theoretical as well as experimental resource to prediction of temperature profiles of PCB´s with different assembly density. | en |
dc.description.mark | A | cs |
dc.identifier.citation | STRAPKO, J. Měření teplotních profilů SMD pouzder [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2010. | cs |
dc.identifier.other | 32397 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/6233 | |
dc.language.iso | sk | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | Termočlánok | sk |
dc.subject | tepelný manažment | sk |
dc.subject | DPS | sk |
dc.subject | SMD | sk |
dc.subject | teplotný profil | sk |
dc.subject | spájkovanie | sk |
dc.subject | púzdro | sk |
dc.subject | metóda sústredenej kapacity | sk |
dc.subject | metóda konečných diferencií | sk |
dc.subject | PLCC | sk |
dc.subject | 1206. | sk |
dc.subject | Thermocouple | en |
dc.subject | temperature management | en |
dc.subject | PCB | en |
dc.subject | SMD | en |
dc.subject | temperature profile | en |
dc.subject | reflow | en |
dc.subject | package | en |
dc.subject | lumped capacitance method | en |
dc.subject | finite difference method | en |
dc.subject | PLCC | en |
dc.subject | 1206. | en |
dc.title | Měření teplotních profilů SMD pouzder | sk |
dc.title.alternative | Temperature Profiles Measurement of SMD Packages | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | masterThesis | en |
dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
dcterms.dateAccepted | 2010-06-09 | cs |
dcterms.modified | 2010-07-13-11:45:29 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
sync.item.dbid | 32397 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2021.11.12 11:12:11 | en |
sync.item.modts | 2021.11.12 09:54:01 | en |
thesis.discipline | Mikroelektronika | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektroniky | cs |
thesis.level | Inženýrský | cs |
thesis.name | Ing. | cs |