Testování SRAM pamětí s využitím MBIST
| but.committee | prof. Ing. Miroslav Husák, CSc. (předseda) prof. Ing. Vladislav Musil, CSc. (místopředseda) Ing. Břetislav Mikel, Ph.D. (člen) doc. Ing. Josef Šandera, Ph.D. (člen) Ing. Ondřej Hégr, Ph.D. (člen) | cs |
| but.defence | Student prezentuje svoji diplomovou práci. Student seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením závěrečné práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta Obhajoba • V jakých případech se provádí testování MBIST? | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Hejátková, Edita | cs |
| dc.contributor.author | Sedlář, Jan | cs |
| dc.contributor.referee | Fujcik, Lukáš | cs |
| dc.date.created | 2018 | cs |
| dc.description.abstract | Práce se zabývá testováním pamětí SRAM pomocí metody MBIST s využitím softwaro-vého nástroje Tessent Memory BIST. Cílem je seznámit se s testováním pamětí a vytvořitnávrh na specifickém čipu, kterému po implementaci testovací logiky budou zachoványpůvodní vlastnosti a funkce. Následně je provedeno vyhodnocení tohoto nástroje a jehopoužitelnost. | cs |
| dc.description.abstract | The project deals with the testing of SRAM memories using method MBIST with the utilisation of sofware tool Tessent Memory BIST. The main purpose is to get familiar with memory testing and to create a design for testing on a specific chip which after its implementation on the chip will retain the original features and functions. Subsequently, the tool is evaluated on its usability. | en |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | SEDLÁŘ, J. Testování SRAM pamětí s využitím MBIST [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2018. | cs |
| dc.identifier.other | 111790 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/80934 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | SRAM | cs |
| dc.subject | Tessent | cs |
| dc.subject | MBIST | cs |
| dc.subject | Test paměti | cs |
| dc.subject | JTAG | cs |
| dc.subject | Čip | cs |
| dc.subject | SRAM | en |
| dc.subject | Tessent | en |
| dc.subject | MBIST | en |
| dc.subject | Memory test | en |
| dc.subject | JTAG | en |
| dc.subject | Chip | en |
| dc.title | Testování SRAM pamětí s využitím MBIST | cs |
| dc.title.alternative | SRAM memories testing with utilization of memory built-in-self-test | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | masterThesis | en |
| dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2018-06-05 | cs |
| dcterms.modified | 2018-06-08-11:09:54 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| sync.item.dbid | 111790 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.26 13:33:16 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.15 21:44:43 | en |
| thesis.discipline | Mikroelektronika | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektroniky | cs |
| thesis.level | Inženýrský | cs |
| thesis.name | Ing. | cs |