Testování SRAM pamětí s využitím MBIST

Loading...
Thumbnail Image
Date
Authors
Sedlář, Jan
ORCID
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract
Práce se zabývá testováním pamětí SRAM pomocí metody MBIST s využitím softwaro-vého nástroje Tessent Memory BIST. Cílem je seznámit se s testováním pamětí a vytvořitnávrh na specifickém čipu, kterému po implementaci testovací logiky budou zachoványpůvodní vlastnosti a funkce. Následně je provedeno vyhodnocení tohoto nástroje a jehopoužitelnost.
The project deals with the testing of SRAM memories using method MBIST with the utilisation of sofware tool Tessent Memory BIST. The main purpose is to get familiar with memory testing and to create a design for testing on a specific chip which after its implementation on the chip will retain the original features and functions. Subsequently, the tool is evaluated on its usability.
Description
Citation
SEDLÁŘ, J. Testování SRAM pamětí s využitím MBIST [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2018.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Mikroelektronika
Comittee
prof. Ing. Miroslav Husák, CSc. (předseda) prof. Ing. Vladislav Musil, CSc. (místopředseda) Ing. Břetislav Mikel, Ph.D. (člen) doc. Ing. Josef Šandera, Ph.D. (člen) Ing. Ondřej Hégr, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2018-06-05
Defence
Student prezentuje svoji diplomovou práci. Student seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením závěrečné práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta Obhajoba • V jakých případech se provádí testování MBIST?
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení
DOI
Collections
Citace PRO