Testování SRAM pamětí s využitím MBIST

Abstract

Práce se zabývá testováním pamětí SRAM pomocí metody MBIST s využitím softwaro-vého nástroje Tessent Memory BIST. Cílem je seznámit se s testováním pamětí a vytvořitnávrh na specifickém čipu, kterému po implementaci testovací logiky budou zachoványpůvodní vlastnosti a funkce. Následně je provedeno vyhodnocení tohoto nástroje a jehopoužitelnost.The project deals with the testing of SRAM memories using method MBIST with the utilisation of sofware tool Tessent Memory BIST. The main purpose is to get familiar with memory testing and to create a design for testing on a specific chip which after its implementation on the chip will retain the original features and functions. Subsequently, the tool is evaluated on its usability.