Zobrazení vícesvazkové emise elektronů jednou čočkou
| but.committee | prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (místopředseda) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) prof. Mgr. Dominik Munzar, Dr. (člen) doc. Mgr. Adam Dubroka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. Ing. Jan Čechal, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Petráček, Dr. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) prof. Ing. Miroslav Kolíbal, Ph.D. (člen) doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) | cs |
| but.defence | Po otázkách oponenta bylo dále diskutováno: Vliv justáže mřížky na jas jednotlivých katod. Parametry extrakčního systému. Student na otázky odpověděl. | cs |
| but.jazyk | angličtina (English) | |
| but.program | Fyzikální inženýrství a nanotechnologie | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Zlámal, Jakub | en |
| dc.contributor.author | Podstránský, Jáchym | en |
| dc.contributor.referee | Jánský, Pavel | en |
| dc.date.created | 2024 | cs |
| dc.description.abstract | Tato práce je zaměřena na měření emise elektronů z více katod tvořených n-dopovaným křemíkem a zobrazování elektronových svazků fokusovaných čočkou typu einzel na kameru CMOS. Experimentální výsledky jsou porovnány s počítačovou simulací, aby bylo možné pochopit emisi elektronů z polovodičové katody a pozorované nedokonalosti zobrazení. Na závěr jsou navrženy úpravy experimentálního uspořádání, které by měly vést ke zlepšení extrakčního proudu a velikosti stop fokusovaných elektronových svazků a také k lepšímu pochopení procesů probíhajících v experimentu. | en |
| dc.description.abstract | This work is aimed at measuring the electron emission from multiple cathodes formed by n-doped silicon and imaging the electron beams focused by an einzel lens on a CMOS camera. The experimental results are compared with computer simulation to understand the electron emission from the semiconductor cathode and the observed imaging imperfections. Finally, modifications to the experimental setup are suggested that should lead to improvement in the extraction current and spot size of focused electron beams and also better understanding of the processes taking place in the experiment. | cs |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | PODSTRÁNSKÝ, J. Zobrazení vícesvazkové emise elektronů jednou čočkou [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2024. | cs |
| dc.identifier.other | 158350 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/247762 | |
| dc.language.iso | en | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Elektrony | en |
| dc.subject | autoemise | en |
| dc.subject | polovodiče | en |
| dc.subject | COMSOL Multiphysics | en |
| dc.subject | Electrons | cs |
| dc.subject | field emission | cs |
| dc.subject | semiconductors | cs |
| dc.subject | COMSOL Multiphysics | cs |
| dc.title | Zobrazení vícesvazkové emise elektronů jednou čočkou | en |
| dc.title.alternative | Single column multiple electron beam imaging | cs |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | masterThesis | en |
| dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2024-06-12 | cs |
| dcterms.modified | 2024-06-12-11:44:35 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta strojního inženýrství | cs |
| sync.item.dbid | 158350 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.27 10:45:55 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.15 11:49:11 | en |
| thesis.discipline | bez specializace | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrství | cs |
| thesis.level | Inženýrský | cs |
| thesis.name | Ing. | cs |