Užití elektronové difrakce k mapování elastického napětí

Simple item page
but.committeeprof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen)cs
but.defencePo otázkách oponenta bylo diskutováno: vznik difrakčního kužele možnost dalšího využití metody v praxi Student na otázky odpověděl.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programFyzikální inženýrství a nanotechnologiecs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorSpousta, Jiřícs
dc.contributor.authorOndračka, Václavcs
dc.contributor.refereeKuběna, Ivocs
dc.date.created2021cs
dc.description.abstractMetoda difrakce zpětně odražených elektronů je známou a běžně používanou metodou k určení orientace a velikosti zrn. Její použití pro mapování elastické deformace a ro- tace způsobené plastickými deformacemi tak rozšířené není. Tato diplomová práce se věnuje popisu standardního EBSD systému. Poznatků o použitých soustavách, notace orientace zrn a kalibrace systému je pak využito pro vytvoření svobodného softwaru pro mapování elastické deformace a rotace v rámci jediného zrna nebo monokrystalu, pracujícího s daty získanými z komerčních EBSD systémů.cs
dc.description.abstractElectron backscatter diffraction is a method that is well described and commonly used for orientation image mapping, including grain size estimation. The use of this method for measuring elastic deformation and rotations caused by plastic deformations is not so well decribed. This diploma thesis first describes the typical EBSD system. The information regarding the standard coordinate systems, grain orientation notation and system calibration is then used to create an open-source software for mapping elastic deformations and rotations inside a single grain or a monocrystal. This software uses data acquired during standard EBSD mapping on a commercial system.en
dc.description.markAcs
dc.identifier.citationONDRAČKA, V. Užití elektronové difrakce k mapování elastického napětí [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2021.cs
dc.identifier.other129620cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/201542
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectmapování elastické deformacecs
dc.subjectEBSDcs
dc.subjectHR-EBSDcs
dc.subjectkorelativní EBSDcs
dc.subjectelektronová difrakcecs
dc.subjectelastic deformation mappingen
dc.subjectEBSDen
dc.subjectHR-EBSDen
dc.subjectcorrelative EBSDen
dc.subjectelectron diffractionen
dc.titleUžití elektronové difrakce k mapování elastického napětícs
dc.title.alternativeCorrelation of electron backscatter diffraction for elastic stress mappingen
dc.typeTextcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs
dcterms.dateAccepted2021-06-16cs
dcterms.modified2021-06-25-07:53:52cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
sync.item.dbid129620en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.27 10:34:51en
sync.item.modts2025.01.15 14:40:05en
thesis.disciplinebez specializacecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 3 of 3
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
12.96 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
appendix-1.zip
Size:
35.18 MB
Format:
zip
Description:
appendix-1.zip
Download
Thumbnail Image
Name:
review_129620.html
Size:
10.08 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_129620.html
Download
Collections
2021