Užití elektronové difrakce k mapování elastického napětí

Abstract

Metoda difrakce zpětně odražených elektronů je známou a běžně používanou metodou k určení orientace a velikosti zrn. Její použití pro mapování elastické deformace a ro- tace způsobené plastickými deformacemi tak rozšířené není. Tato diplomová práce se věnuje popisu standardního EBSD systému. Poznatků o použitých soustavách, notace orientace zrn a kalibrace systému je pak využito pro vytvoření svobodného softwaru pro mapování elastické deformace a rotace v rámci jediného zrna nebo monokrystalu, pracujícího s daty získanými z komerčních EBSD systémů.Electron backscatter diffraction is a method that is well described and commonly used for orientation image mapping, including grain size estimation. The use of this method for measuring elastic deformation and rotations caused by plastic deformations is not so well decribed. This diploma thesis first describes the typical EBSD system. The information regarding the standard coordinate systems, grain orientation notation and system calibration is then used to create an open-source software for mapping elastic deformations and rotations inside a single grain or a monocrystal. This software uses data acquired during standard EBSD mapping on a commercial system.