Aplikace transmisní elektronové mikroskopie s vysokým rozlišením pro strukturní analýzu nanovláken

but.committeeprof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) prof. RNDr. Eduard Schmidt, CSc. (člen)cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programAplikované vědy v inženýrstvícs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorKolíbal, Miroslavcs
dc.contributor.authorKachtík, Lukášcs
dc.contributor.refereeSháněl, Ondřejcs
dc.date.created2016cs
dc.description.abstractDiplomová práce se zabývá strukturní analýzou polovodičových nanovláken za pomocí transmisní elektronové mikroskopie. Představena je konstrukce mikroskopu, jeho základní módy zobrazování a funkce jednotlivých prvků v těchto módech. V experimentální části jsou diskutovány výsledky měření několika germaniových nanovláken s důrazem na jejich krystalografickou strukturu a orientaci.cs
dc.description.abstractThis diploma thesis deals with the structural analysis of semiconductor nanowires by transmission electron microscopy. The construction of microscope is introduced together with its basic imaging modes and with the function of each construction element in these modes. In the experimental part the results of analysis of several germnaium nanowires are discussed, with emphasis on their crystallographic structure and orientation.en
dc.description.markAcs
dc.identifier.citationKACHTÍK, L. Aplikace transmisní elektronové mikroskopie s vysokým rozlišením pro strukturní analýzu nanovláken [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2016.cs
dc.identifier.other92022cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/59574
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectTEMcs
dc.subjecttransmisní elektronový mikroskopcs
dc.subjectzlatocs
dc.subjectgermaniumcs
dc.subjectnanočásticecs
dc.subjectnanovláknacs
dc.subjectTEMen
dc.subjecttransmission electron microscopeen
dc.subjectgolden
dc.subjectgermaniumen
dc.subjectnanoparticlesen
dc.subjectnanowiresen
dc.titleAplikace transmisní elektronové mikroskopie s vysokým rozlišením pro strukturní analýzu nanovlákencs
dc.title.alternativeApplication of high resolution transmission electron microscopy for structure analysis of nanowiresen
dc.typeTextcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs
dcterms.dateAccepted2016-06-20cs
dcterms.modified2016-06-23-09:47:29cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
sync.item.dbid92022en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.27 07:59:43en
sync.item.modts2025.01.17 14:45:45en
thesis.disciplineFyzikální inženýrství a nanotechnologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
9.31 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_92022.html
Size:
8.62 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_92022.html
Collections