Aplikace transmisní elektronové mikroskopie s vysokým rozlišením pro strukturní analýzu nanovláken

Abstract

Diplomová práce se zabývá strukturní analýzou polovodičových nanovláken za pomocí transmisní elektronové mikroskopie. Představena je konstrukce mikroskopu, jeho základní módy zobrazování a funkce jednotlivých prvků v těchto módech. V experimentální části jsou diskutovány výsledky měření několika germaniových nanovláken s důrazem na jejich krystalografickou strukturu a orientaci.This diploma thesis deals with the structural analysis of semiconductor nanowires by transmission electron microscopy. The construction of microscope is introduced together with its basic imaging modes and with the function of each construction element in these modes. In the experimental part the results of analysis of several germnaium nanowires are discussed, with emphasis on their crystallographic structure and orientation.