Metodika stanovení tloušťky odprášených vrstev při využití XPS hloubkového destruktivního profilování
| but.committee | prof. Ing. Petr Ptáček, Ph.D. (předseda) prof. Ing. Jaromír Havlica, DrSc. (místopředseda) prof. Ing. Ladislav Omelka, DrSc. (člen) prof. Dr. Ing. Martin Palou (člen) doc. RNDr. Jaroslav Petrůj, CSc. (člen) prof. RNDr. Josef Jančář, CSc. (člen) prof. Ing. Tomáš Svěrák, CSc. (člen) | cs |
| but.defence | Student Marek Bušo přednesl podstatné výsledky své bakalářské práce na téma: "Metodika stanovení tloušťky odprášených vrstev při využití XPS hloubkového destruktivního profilování". Po seznámení komise s metodikou prováděných zkoušek, byla sledovaná hloubka korozní vrstvy na vzorku oceli exponované pro daný čas koroznímu prostředí. Po zodpovězení dotazů oponenta, následovala diskuse zaměřená na vztah mezi sílou vrstvy korozního produktu a dobou odprášení. | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Chemie a chemické technologie | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Kalina, Lukáš | cs |
| dc.contributor.author | Bušo, Marek | cs |
| dc.contributor.referee | Wasserbauer, Jaromír | cs |
| dc.date.created | 2015 | cs |
| dc.description.abstract | Práce se zabývá problematikou stanovení tloušťky korozních vrstev feritické oceli pomocí rentgenového fotoelektronového spektrometru (XPS) vybaveného iontovým dělem. Výzkum zahrnuje přípravu vzorků oceli v různých korozních prostředích, které jsou pak analyzovány a vyhodnoceny. Dle zjištěných dat je stanovena tloušťka korozních vrstev oceli. | cs |
| dc.description.abstract | Bachelor´s thesis deals with the thickness determination of the corrosion layers of ferritic steel by X-ray photoelectron spectroscopy equipped with the ion gun. The research involves the preparation of steel samples in various corrosive environments, which are analysed and evaluated. According to the observed data is determined thickness of the corrosion layers of steel. | en |
| dc.description.mark | B | cs |
| dc.identifier.citation | BUŠO, M. Metodika stanovení tloušťky odprášených vrstev při využití XPS hloubkového destruktivního profilování [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2015. | cs |
| dc.identifier.other | 76774 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/40664 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | rentgenová fotoelektronová spektroskopie | cs |
| dc.subject | odprašování iontovým dělem | cs |
| dc.subject | hloubkové profilování | cs |
| dc.subject | X-ray photoelectron spectroscopy | en |
| dc.subject | ion gun etching | en |
| dc.subject | depth profiling | en |
| dc.title | Metodika stanovení tloušťky odprášených vrstev při využití XPS hloubkového destruktivního profilování | cs |
| dc.title.alternative | Thickness determination methodology of etched layers using destructive XPS depth profiling | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | bachelorThesis | en |
| dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2015-06-16 | cs |
| dcterms.modified | 2015-06-16-12:00:26 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta chemická | cs |
| sync.item.dbid | 76774 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.16 12:49:24 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.15 15:16:09 | en |
| thesis.discipline | Chemie, technologie a vlastnosti materiálů | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. Ústav chemie materiálů | cs |
| thesis.level | Bakalářský | cs |
| thesis.name | Bc. | cs |