Detekce nánosu UV lepidla

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Pavelka, Radek

Mark

B

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

ORCID

Abstract

Tato diplomová práce se věnuje návrhu kontrolního kamerového systému pro detekci vad při nanášení UV luminiscenčního lepidla, spojujícího dno papírového pytle. Během práce byl vytvořen a otestován program pracující s průmyslovou kamerou Baumer VCXG-53C, implementující dvě kontrolní metody - vyhledání uživatelem předem defnované šablony lepidla pomocí vzájemné 2D korelace a měření plochy lepidla z binárně segmentovaného obrazu. Výsledkem práce je navržený kontrolní systém, který je připravený k nasazení ve zvolené zákaznické aplikaci.
This diploma thesis focuses on a design of camera control system used for detecting defects, appearing during a UV luminescent glue application on the bottom of a paper bag. As a part of this thesis, an application was developed, using Baumer VCXG-53C industrial camera, implementing two dierent control methods - 2D cross correlation image pattern matching based on previously user defined pattern and glue area size measuring based on binary segmented image. The result of this work is a fully developed control system, prepared to be put into operation at the customer’s production line.

Description

Citation

PAVELKA, R. Detekce nánosu UV lepidla [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2018.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Kybernetika, automatizace a měření

Comittee

doc. Ing. Miloš Železný, Ph.D. (předseda) prof. Ing. Pavel Václavek, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Petr Beneš, Ph.D. (člen) Ing. Radovan Holek, CSc. (člen) Ing. Peter Honec, Ph.D. (člen) Ing. Lukáš Kopečný, Ph.D. (člen)

Date of acceptance

2018-06-05

Defence

Student obhájil diplomovou práci.

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO