Experimentální studium rozptylu světla na tenkých vrstvách
but.committee | prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Ivan Richter, Dr. (člen) Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D. (člen) Ing. Petr Bouchal, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) | cs |
but.defence | Doktorand na základě zkušeností s přechozími generacemi zařízení navrhl, zkoumal a podrobně vyhodnotil vlastnosti nové sestavy skaterometru. Tím splnil cíle práce. Výsledek práce má zásadní význam pro měření drsnosti povrchů těles otpickou metodou. Práce navazuje a posiluje v před problematiku řešenou v laboratoři kohenerání optiky ve spolupráci v Přírodovědeckou fakultkou MUNI a ČMI v Brně. | cs |
but.jazyk | čeština (Czech) | |
but.program | Fyzikální a materiálové inženýrství | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Ohlídal, Miloslav | cs |
dc.contributor.author | Šustek, Štěpán | cs |
dc.contributor.referee | Valtr,, Miroslav | cs |
dc.contributor.referee | Richter, Ivan | cs |
dc.date.accessioned | 2024-12-10T14:03:55Z | |
dc.date.available | 2024-12-10T14:03:55Z | |
dc.date.created | cs | |
dc.description.abstract | Elektromagnetické záření dopadající na povrch pevného tělesa je z části zrcadlově odraženo podle principů geometrické optiky a z části rozptýleno do jiných směrů (tzv. difúzní složka) vlivem drsností povrchu. Z charakteristiky rozptýlené části lze následně určit topografie povrchu na kterém k difúzi dochází. Pro velmi málo drsné povrchy v řádu nanometrů, jaké jsou očekávány u tenkých vrstev, je zapotřebí velmi citlivé a přesné měření difúzní složky. Měřící systém by měl vykazovat vysoký dynamický rozsah a dostatečné úhlové rozlišení. K tomuto účelu byl navržen, realizován a také upravován skaterometr goniometrického typu. Přístroj byl následně testován a výsledky byly porovnány s nezávislým měřením na jiném pracovišti. Diskutována je také možnost rozšířeného využití přístroje a případné úpravy. | cs |
dc.description.abstract | Electromagnetic radiation incident on the surface of a solid body is partly reflected specularly according to the principles of geometrical optics and partly scattered into other directions (the so-called diffuse component) due to surface roughness. From the characteristics of the scattered part, the topography of the surface where diffusion occurs can be determined. For surfaces with very low roughness on the order of nanometers, as expected in thin films, highly sensitive and precise measurement of the diffuse component is required. The measuring system should exhibit a high dynamic range and sufficient angular resolution. For this purpose, a goniometric-type scatterometer was designed, implemented, and also modified. The instrument was subsequently tested, and the results were compared with independent measurements conducted at another facility. The possibility of extended use of the instrument and potential modifications are also discussed. | en |
dc.description.mark | P | cs |
dc.identifier.citation | ŠUSTEK, Š. Experimentální studium rozptylu světla na tenkých vrstvách [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. . | cs |
dc.identifier.other | 163368 | cs |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/11012/249837 | |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | Skaterometr | cs |
dc.subject | rozptyl záření na površích pevných látek | cs |
dc.subject | optická charakterizace | cs |
dc.subject | tenké vrstvy. | cs |
dc.subject | Scatterometer | en |
dc.subject | radiation scattering on the surfaces of solid substances | en |
dc.subject | optical characterization | en |
dc.subject | thin films. | en |
dc.title | Experimentální studium rozptylu světla na tenkých vrstvách | cs |
dc.title.alternative | Experimental study of light scattering from thin films | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | doctoralThesis | en |
dc.type.evskp | dizertační práce | cs |
dcterms.modified | 2024-10-25-13:54:33 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta strojního inženýrství | cs |
sync.item.dbid | 163368 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2024.12.10 15:03:55 | en |
sync.item.modts | 2024.10.26 05:31:36 | en |
thesis.discipline | Fyzikální a materiálové inženýrství | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrství | cs |
thesis.level | Doktorský | cs |
thesis.name | Ph.D. | cs |
Files
Original bundle
1 - 5 of 6
Loading...
- Name:
- final-thesis.pdf
- Size:
- 5.54 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- file final-thesis.pdf
Loading...
- Name:
- thesis-1.pdf
- Size:
- 2.8 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- file thesis-1.pdf
Loading...
- Name:
- Posudek-Vedouci prace-Stanovisko skolitele Sustek BP.pdf
- Size:
- 44.28 KB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- file Posudek-Vedouci prace-Stanovisko skolitele Sustek BP.pdf
Loading...
- Name:
- Posudek-Oponent prace-posudek_sustek_sken Valtr_BP.pdf
- Size:
- 338.91 KB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- file Posudek-Oponent prace-posudek_sustek_sken Valtr_BP.pdf
Loading...
- Name:
- Posudek-Oponent prace-Sustek_dizertace oponentura Richter BP.pdf
- Size:
- 371.56 KB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- file Posudek-Oponent prace-Sustek_dizertace oponentura Richter BP.pdf