Predikce spolehlivosti pájeného spoje

but.committeeprof. Ing. Vladislav Musil, CSc. (předseda) doc. Ing. Pavel Mach, CSc. (člen) doc. Ing. František Steiner, Ph.D. (člen) doc. Ing. Petr Bača, Ph.D. (člen) Ing. Jiří Starý, Ph.D. (člen) doc. Ing. Vlastimil Skočil, CSc. - oponent (člen) Ing. Ladsilav Hovorka - oponent (člen)cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programElektrotechnika a komunikační technologiecs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorKazelle, Jiřícs
dc.contributor.authorStejskal, Petrcs
dc.contributor.refereeSkočil, Vlastimilcs
dc.contributor.refereeHovorka, Ladislavcs
dc.date.created2015cs
dc.description.abstractPráce rozebírá problematiku spolehlivosti pájených spojů a jejich diagnostiky. Ačkoliv jsou současné výrobní postupy a technologie na vysoké úrovni, stále vysoký počet elektrotechnických zařízení ukončí svůj funkční život v důsledku selhání pájeného spoje. Předmětem výzkumu je tedy studium procesů, které se odehrávají v pájeném spoji v průběhu pájení i po zapájení. Za tímto účelem bylo použito několik diagnostických metod. Jako perspektivní (advanced) se ukázala metoda měření šumu v pájených spojích. Na základě získaných poznatků a pochopení probíhajících procesů lze predikovat spolehlivost pájeného spoje.cs
dc.description.abstractThe thesis deals issue of the solder joint reliability and diagnostics. The manufacturing technology of electronics currently features a very high level of perfection. A large number of electrical devices ends its functional life due to solder joint failure. The objective of presented research consists studies of processes taking place in the solder joint due to soldering and after soldering. To this end, I will employ several methods of diagnostics. Noise based methods of solder joint measurement was evaluated. Based on a detailed study and understanding of processes it can be solder joint reliability predicted.en
dc.description.markPcs
dc.identifier.citationSTEJSKAL, P. Predikce spolehlivosti pájeného spoje [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2015.cs
dc.identifier.other77506cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/36352
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectPájený spojcs
dc.subjectintermetalická vrstvacs
dc.subjectspolehlivostcs
dc.subjectpredikce.cs
dc.subjectSolder jointen
dc.subjectintermetallic layeren
dc.subjectreliabilityen
dc.subjectprediction.en
dc.titlePredikce spolehlivosti pájeného spojecs
dc.title.alternativeSolder Joint Reliability Predictionen
dc.typeTextcs
dc.type.driverdoctoralThesisen
dc.type.evskpdizertační prácecs
dcterms.dateAccepted2015-03-31cs
dcterms.modified2015-04-01-09:34:14cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid77506en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.27 11:56:15en
sync.item.modts2025.01.15 21:02:26en
thesis.disciplineMikroelektronika a technologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologiecs
thesis.levelDoktorskýcs
thesis.namePh.D.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 5 of 5
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
4.6 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
thesis-1.pdf
Size:
1.91 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
thesis-1.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Posudek-Oponent prace-Skocil_posudek na Stejskala.pdf
Size:
868.31 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek-Oponent prace-Skocil_posudek na Stejskala.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Posudek-Oponent prace-Hovorka_Posudek_Petr_Stejskal.pdf
Size:
1.53 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek-Oponent prace-Hovorka_Posudek_Petr_Stejskal.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_77506.html
Size:
3.24 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_77506.html
Collections