Experimentální měření dielektrických funkcí pomocí elipsometrie
| but.committee | prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (místopředseda) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. Ing. Jan Čechal, Ph.D. (člen) prof. Ing. Miroslav Kolíbal, Ph.D. (člen) doc. Mgr. Vlastimil Křápek, Ph.D. (člen) doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) doc. Ing. Miroslav Bartošík, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) | cs |
| but.defence | Po otázkách oponenta bylo dále diskutováno: Vliv depolarizace na vyhodnocení spekter. Projevy elektronových přechodů v dieletrické funkci. Prostorové rozlišení mikroskopické elipsometrie. Student na otázky odpověděl. | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Fyzikální inženýrství a nanotechnologie | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Viewegh, Petr | cs |
| dc.contributor.author | Slovák, Radim | cs |
| dc.contributor.referee | Kvapil, Michal | cs |
| dc.date.created | 2024 | cs |
| dc.description.abstract | Tato práce se zabývá širokým využitím charakterizační metody spektroskopické elipsometrie (SE). Je uvedeno měření dielektrické funkce termického oxidu SiO2 a jeho tloušťky na křemíkovém substrátu. Dále je prezentována rozličná dielektrická funkce tenké zlaté vrstvy, její ryze kovové a dielektrické vlastnosti. Metoda SE je použita pro determinaci časově proměnných vrstev v podobě rychlosti růstu oxidů mědi. Dále je změřena dielektrická funkce fotoluminiscenčního materiálu CsPbBr3 na níž je prezentováno nalezení kvantových přechodů v daném materiálu. V neposlední řadě je vytvořen program v pythonu umožňující kompletní analýzu elipsometrických dat získaných obrazovou mikro elipsometrií na fázově proměnném Sb2S3. | cs |
| dc.description.abstract | This work deals with the broad application of the spectral ellipsometry (SE) characterization method. It includes measurements of the dielectric function of thermal SiO2 and its thickness on a silicon substrate. Additionally, it presents diverse dielectric function of thin gold layer, highlighting its metallic and dielectric properties. The SE method is utilized for determining time-variable layers such as the growth rate of copper oxides. Furthermore, the dielectric function of the photoluminescent material CsPbBr3 is measured to identify quantum transitions within this perovskite material. Finally, a program in python is developed, enabling comprehensive analysis of ellipsometric data obtained via imaging microellipsometry on phase-change Sb2S3. | en |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | SLOVÁK, R. Experimentální měření dielektrických funkcí pomocí elipsometrie [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2024. | cs |
| dc.identifier.other | 154990 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/248248 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Spektroskopická elipsometrie | cs |
| dc.subject | dielektrická funkce | cs |
| dc.subject | zlatá vrstva | cs |
| dc.subject | oxid mědi | cs |
| dc.subject | fotoluminiscenční materiál | cs |
| dc.subject | CsPbBr3 | cs |
| dc.subject | zobrazovací mikroelipsometrie | cs |
| dc.subject | Sb2S3. | cs |
| dc.subject | Spectroscopic ellipsometry | en |
| dc.subject | dielectric function | en |
| dc.subject | gold layer | en |
| dc.subject | copper oxide | en |
| dc.subject | photoluminescent material | en |
| dc.subject | CsPbBr3 | en |
| dc.subject | imaging microellipsometry | en |
| dc.subject | Sb2S3. | en |
| dc.title | Experimentální měření dielektrických funkcí pomocí elipsometrie | cs |
| dc.title.alternative | Experimental measurement of dielectric functions using ellipsometry | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | bachelorThesis | en |
| dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2024-06-14 | cs |
| dcterms.modified | 2024-06-18-08:45:12 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta strojního inženýrství | cs |
| sync.item.dbid | 154990 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.26 08:20:43 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.17 09:52:29 | en |
| thesis.discipline | bez specializace | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrství | cs |
| thesis.level | Bakalářský | cs |
| thesis.name | Bc. | cs |