Optimalizace polohovacího systému testování polovodičových čipů
but.committee | doc. Ing. František Urban, CSc. (předseda) doc. Ing. Vilém Kledrowetz, Ph.D. (místopředseda) Ing. Vojtěch Dvořák, Ph.D. (člen) Ing. Martin Adámek, Ph.D. (člen) doc. Ing. Pavel Šteffan, Ph.D. (člen) | cs |
but.defence | Student seznámil zkušební komisi s řešením své diplomové práce. Představil hlavní cíle a motivaci. Byli uvedeny rozdíly v mikroposuvech a úpravy které byli vykonány na bakalářské práci t.j. původní nedostatky a navržené vylepšení. Zvětšila se kontaktovací hlava, rotační vakuový stolek a další komponenty. V programovém rozhraní se doplnili možnosti ovládání, detekce čipů a další. Prezentována byla také část popisující testování na specifickém čipu. Komise položila následující dotazy k práci: -Čím je způsoben sklon roviny? -Jak detekujete kontakt jehel s čipem? -Jak by bylo možné korigovat rovinnost? | cs |
but.jazyk | slovenština (Slovak) | |
but.program | Mikroelektronika | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Otáhal, Alexandr | sk |
dc.contributor.author | Kotian, Tomáš | sk |
dc.contributor.referee | Jankovský, Jaroslav | sk |
dc.date.created | 2024 | cs |
dc.description.abstract | Cieľom tejto diplomovej práce bolo vypracovať rešerš, ktorý by zhrnul možnosti testovania čipov a následne navrhnúť a realizovať potrebné zmeny na poloautomatickom polohovacom systéme, ktoré by zabezpečili jeho schopnosť testovať čipy pomocou kariet so sondami. Poloautomatický polohovací systém je výsledkom bakalárskej práce, v ktorej bola overená schopnosť testovania na odporovej sústave vytvorenej na hrubej vrstve. Praktická časť tejto práce je zameraná na presné meranie parametrov prístroja, navrhnutie potrebných zmien na mechanickej časti prístroja a ich realizáciu. Ďalej práca obsahuje návrh a vytvorenie aplikácie pre ovládanie prístroja s automatickou detekciou čipu. Poslednou časťou práce je testovanie prístroja na dvoch čipoch odlišných veľkostí. | sk |
dc.description.abstract | The goal of this diploma thesis was to gather theoretical information on the possibilities of chip testing and subsequently design and apply necessary changes for the semi automatic positioning system, which would ensure its ability to test chips with the use of probe cards. Semi automatic positioning system is a result of a bachelor thesis, which ensured the ability of the machine to provide testing with the use of a resistance system created on a thick layer. The practical part of this thesis is focused on providing an accurate testing of the machine’s parametres and designing and applying necessary changes for the mechanical part of the machine. Furthermore, the thesis also describes the design and creation of an application with automatic detection of a chip, which is used for controlling the machine. The last part of the thesis describes the testing of the machine, which was realized with the use of two different sized chips. | en |
dc.description.mark | A | cs |
dc.identifier.citation | KOTIAN, T. Optimalizace polohovacího systému testování polovodičových čipů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2024. | cs |
dc.identifier.other | 159935 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/245952 | |
dc.language.iso | sk | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | polohovací systém pre test polovodičových čipov | sk |
dc.subject | karty so sondami | sk |
dc.subject | mikroposuvy so sondami | sk |
dc.subject | Python | sk |
dc.subject | tkinter | sk |
dc.subject | OpenCV | sk |
dc.subject | positioning system of semiconductor chip testing | en |
dc.subject | probe cards | en |
dc.subject | micropositioners | en |
dc.subject | Python | en |
dc.subject | tkinter | en |
dc.subject | OpenCV | en |
dc.title | Optimalizace polohovacího systému testování polovodičových čipů | sk |
dc.title.alternative | Optimization of the positioning system of semiconductor chip testing | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | masterThesis | en |
dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
dcterms.dateAccepted | 2024-06-04 | cs |
dcterms.modified | 2024-06-06-09:13:16 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
sync.item.dbid | 159935 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2025.03.26 14:41:31 | en |
sync.item.modts | 2025.01.15 12:10:15 | en |
thesis.discipline | bez specializace | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektroniky | cs |
thesis.level | Inženýrský | cs |
thesis.name | Ing. | cs |
Files
Original bundle
1 - 3 of 3
Loading...
- Name:
- final-thesis.pdf
- Size:
- 4.49 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- file final-thesis.pdf
Loading...
- Name:
- appendix-1.zip
- Size:
- 12.41 MB
- Format:
- Unknown data format
- Description:
- file appendix-1.zip
Loading...
- Name:
- review_159935.html
- Size:
- 4.1 KB
- Format:
- Hypertext Markup Language
- Description:
- file review_159935.html