KOTIAN, T. Optimalizace polohovacího systému testování polovodičových čipů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2024.
Student mel za úkol provést rešerši na téma měření a testování polovodičových čipů se zaměřením na probe card systémy. Dále měl za úkol optimalizovat jím vyvinutou testovací stanici s probe card systémem z pohledu přesnosti, uživatelsky přívětivějšího ovládacího software, realizace systému pro vytvoření a umístění měřících hrotů a vylepšení sesazení čipu podle obrazu. Zadání bylo splněno v celém rozsahu. Student pracoval po celý semestr samostatně a pravidělně dle potřeby docházel na konzultace. Doporučuji práci k obhajobě a hodnotím 100 body (A).
Předložená práce je velmi pěkně a přehledně vypracována. Obsahuje jednak úvodní část, dále konstrukční část a experimentální část. V úvodní části diplomant systematicky definuje požadavky kladené na parametry hrotových zařízení pro kontaktování PV čipů při jejich kontrole, členěné na automatická, poloautomatická a manuální zařízení. V konstrukční části navazuje na činnosti vykonané ve své bakalářské práci. Vyhodnocuje nevýhody dosavadního řešení, zkušenosti s jeho provozem a návrhy konstrukčních změn a doplňků. V experimentální části popisuje praktickou realizaci těchto změn. Dále popisuje doplnění konstrukce o zařízení pro vytváření hrotových desek s pomocí 3D tisku. Závěrem je funkce zařízení úspěšně ověřena na dvou typech jednotlivých čipů (KD610 a KF506), které jsou vizualizací automaticky umístěny pod kontakty a změřeny. Dále jsou proměřeny dosažené parametry zařízení (přesnost opakovatelnost polohy, rychlost reakce). Celkově dipomová práce působí jako vynikající svým rozsahem, kvalitou, systematičností i provedením. Práci doporučuji k obhajobě a hodnotím: A 97bodů
eVSKP id 159935