Mikroprogramem řízený RAM BIST

Simple item page
but.committeeprof. Dr. Ing. Zdeněk Kolka (předseda) doc. Ing. Martin Slanina, Ph.D. (místopředseda) prof. Ing. Otakar Wilfert, CSc. (člen) Ing. Michal Kubíček, Ph.D. (člen) Ing. Dr. Techn. Vojtěch Derbek (člen) doc. Ing. Ján Šaliga, Ph.D. (člen) Ing. Josef Vochyán, Ph.D. (člen)cs
but.defenceStudent prezentuje výsledky a postupy řešení své diplomové práce. Následně odpovídá na dotazy vedoucího a oponenta práce a na dotazy členů zkušební komise.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorKubíček, Michalcs
dc.contributor.authorVykydal, Lukášcs
dc.contributor.refereeKovalský, Jancs
dc.date.created2017cs
dc.description.abstractCílem práce je seznámit se s defekty polovodičových pamětí a algoritmy určenými pro je- jich detekci. Následně se práce zabývá návrhem a implementací BIST kontroléru pro test polovodičových pamětí s nízkými nároky na velikost výsledného digitálního bloku.cs
dc.description.abstractThe goal of this work is to understand types of defects in semiconductor memories and algorithms for their testing. In the second part the work describes design and implementation of programmable BIST controller with small digital block size requirments.en
dc.description.markAcs
dc.identifier.citationVYKYDAL, L. Mikroprogramem řízený RAM BIST [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2017.cs
dc.identifier.other102242cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/65289
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjecttestování pamětícs
dc.subjectmarch algoritmycs
dc.subjectpaměťový BISTcs
dc.subjectmemory testingen
dc.subjectmarch algorithmsen
dc.subjectmemory BISTen
dc.titleMikroprogramem řízený RAM BISTcs
dc.title.alternativeMicrocode-controlled RAM BISTen
dc.typeTextcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs
dcterms.dateAccepted2017-06-06cs
dcterms.modified2017-06-08-15:30:35cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid102242en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.26 13:27:11en
sync.item.modts2025.01.17 12:22:31en
thesis.disciplineElektronika a sdělovací technikacs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav radioelektronikycs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 3 of 3
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
1.21 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
appendix-1.zip
Size:
2.05 MB
Format:
zip
Description:
appendix-1.zip
Download
Thumbnail Image
Name:
review_102242.html
Size:
5.99 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_102242.html
Download
Collections
2017