\chapter*{Úvod}
\phantomsection
\addcontentsline{toc}{chapter}{Úvod}

Význam polovodičových pamětí v integrovaných obvodech stále roste a s tím i zabraná plocha na čipu. Tento trend je navíc ještě umocněn využitím mikroprocesorových jader v integrovaném obvodu.  

Při výrobě polovodičového obvodu dochází ke vzniku defektů, které je třeba co nejdříve odhalit a defektní čip vyřadit ideálně již během prvních testů. Při testování je požadavek na co nejvyšší rychlost testu. Z toho důvodu jsou části testovací logiky vyrobeny již v integrovaném obvodu. Jde ovšem o logiku, která není potřebná pro běžnou činnost, a proto je snaha o její co nejmenší velikost (tj. nejmenší cenu).

Vývoj se nevyhýbá ani algoritmům pro testování pamětí. Pro postupné zdokonalování pokrytí výrobních defektů je vhodné mít možnost změnit testovací algoritmus bez nutnosti přenavrhovat blok pro test pamětí. Řešením jsou mikrokódem programovatelné BIST kontroléry. Dostupné verze však nevyhovují z důvodu velikosti. 

Cílem této práce je přiblížit problematiku testování polovodičových pamětí, následně provést souhrn existujících testovacích algoritmů a předložit koncept testovacího kontroléru pro polovodičové paměti, který bude možné použít pro self-test\footnote{Test implementovaný na samotném polovodičovém čipu.}  pamětí. 
