Strukturní a elektronické vlastnosti heteromolekulárních vrstev na povrchu kovů
Loading...
Date
Authors
Hrubá, Daniela
Advisor
Referee
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
ORCID
Abstract
Tato diplomová práce se zabývá výrobou a charakterizací heteromolekulární dvojvrstvy tvořené molekulami hexametoxytrifenylenu (HMTP) na plně deprotonované vrstvě molekul 1,3,5–tris(4–karboxyfenyl)benzenu (BTB) na povrchu kovu, v tomto případě Ag(111). Vzorek byl připraven v podmínkách ultravysokého vakua (UHV). Nejprve byl povrch krystalu Ag(111) vyčištěn pomocí cyklů odprašování a zahřívání, a následně byly postupně nadeponovány vrstvy molekul pomocí efuzní cely. Strukturní uspořádání heteromolekulárních vrstev bylo analyzováno pomocí nízkoenergiového elektronového mikroskopu a rastrovacího tunelového mikroskopu ve výzkumném zařízení CEITEC v Brně. Elektronické vlastnosti byly naměřeny na synchrotronu Elettra v Terstu v Itálii, kde byly využity metody rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS) a ultrafialové fotoelektronové spektroskopie (UPS).
This thesis focuses on the formation and characterization of a heteromolecular bilayer of hexamethoxytriphenylene (HMTP) molecules on top of a fully deprotonated layer of 1,3,5–tris(4–carboxyphenyl)benzene (BTB) molecules on a metal substrate, specifically Ag(111). The sample was prepared in ultra-high vacuum (UHV) conditions. Firstly, the Ag(111) crystal was cleaned by cycles of sputtering and annealing methods, and then the molecular layers were, one by one, deposited via effusion cells. The structural arrangement of the heteromolecular layers was analysed by low-energy electron microscopy (LEEM) and scanning tunneling microscopy (STM) in the CEITEC Nano Research facility in Brno. The electronic properties were measured at the Elettra Synchrotron facility in Trieste, Italy, using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS).
This thesis focuses on the formation and characterization of a heteromolecular bilayer of hexamethoxytriphenylene (HMTP) molecules on top of a fully deprotonated layer of 1,3,5–tris(4–carboxyphenyl)benzene (BTB) molecules on a metal substrate, specifically Ag(111). The sample was prepared in ultra-high vacuum (UHV) conditions. Firstly, the Ag(111) crystal was cleaned by cycles of sputtering and annealing methods, and then the molecular layers were, one by one, deposited via effusion cells. The structural arrangement of the heteromolecular layers was analysed by low-energy electron microscopy (LEEM) and scanning tunneling microscopy (STM) in the CEITEC Nano Research facility in Brno. The electronic properties were measured at the Elettra Synchrotron facility in Trieste, Italy, using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS).
Description
Keywords
heteromolekulární vrstvy , organické materiály , BTB , HMTP , depozice tenkých vrstev , synchrotron , LEEM , XPS , UPS , STM , heteromolecular layers , organic materials , BTB , HMTP , deposition of thin layers , synchrotron , LEEM , XPS , UPS , STM
Citation
HRUBÁ, D. Strukturní a elektronické vlastnosti heteromolekulárních vrstev na povrchu kovů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2025.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
en
Study field
bez specializace
Comittee
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda)
prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (místopředseda)
prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen)
prof. Mgr. Dominik Munzar, Dr. (člen)
doc. Mgr. Adam Dubroka, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen)
prof. Ing. Jan Čechal, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Jiří Petráček, Dr. (člen)
prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen)
prof. Ing. Miroslav Kolíbal, Ph.D. (člen)
doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen)
doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen)
doc. Mgr. Vlastimil Křápek, Ph.D. (člen)
RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)
Date of acceptance
2025-06-09
Defence
Po otázkách oponenta bylo dále diskutováno:
Použití mikrodifrakce pro charakterizaci mřížky.
Důvod změny výstupní práce po depozici delta vrstvy.
Studentka na otázky odpověděla.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
