Využití měřicí metody SPM v technologii výroby krystalických solárních článků

Simple item page
but.committeedoc. Ing. Petr Bača, Ph.D. (předseda) prof. Ing. Karel Bartušek, DrSc. (místopředseda) Ing. Pavel Prosr, Ph.D. (člen) Ing. Zdenka Rozsívalová (člen) doc. Ing. Petr Křivík, Ph.D. (člen)cs
but.defenceDiplomant seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením své diplomové práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: 1) Metody měření vázaného náboje? Jaké jsou výhody, nevýhody? 2) Zhodnoťte reprodukovatelnost a opakovatelnost metod meření rastrující sondou na stejném místě vzorku. 3) Přesnost meření na stejném místě vzorku? 4) Popište pricnip Kelvinovy sondy. 5) Jak je ovlivněna účinnost solárního článku s využitím těchto technik měření? Jaký je ekonomický benefit? 6) Jaký je vliv drsnosti povrchu solárních článků na lámavost solárních článků? Jaký byl počet měření na jednom vzorku solárního článku?cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorHégr, Ondřejcs
dc.contributor.authorMojrová, Barboracs
dc.contributor.refereeBoušek, Jaroslavcs
dc.date.created2013cs
dc.description.abstractTato práce se zabývá využitím technik mikroskopie atomárních sil (AFM) a mikroskopie Kelvinovou sondou (KPFM) ve výrobě solárních článků. Obě techniky zjišťují požadované vlastnosti povrchu pomocí silových interakcí mezi ním a hrotem, jež postupně skenuje celý povrch vzorku. Mikroskopie atomárních sil umožňuje trojrozměrné zobrazení struktury povrchu. Mikroskopie Kelvinovou sondou se využívá pro měření kontaktního potenciálu povrchu a vrstev těsně pod ním. V práci jsou popsána experimentální měření topografie pomocí AFM u monokrystalických i multikrystalických substrátů po různých procesech leptání. Pomocí KPFM byl měřen kontaktní potenciál na struktuře selektivního emitoru a na pasivačních a antireflexních vrstvách PSG, SiOX, SiNX a Al2O3. Všechny experimenty popsané v této práci probíhaly na pracovišti společnosti Solartec s.r.o. a plně korespondují se současnou technologií výroby krystalických solárních článků.cs
dc.description.abstractThis thesis deals with the use of Atomic Force Microscopy (AFM) and Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) in solar cells production. Both techniques measure surface properties using interactions between surface and tip that progressively scans entire surface of the sample. Atomic force microscopy allows three dimensional imaging of surface structure. Kelvin probe force microscopy is used to measure the contact potential difference on the sample surface. There are described experimental measurements of monocrystalline and multicrystalline substrates after various etching processes using AFM. By using KPFM the contact potential difference was measured on dielectric layers PSG, SiOX, SiNX and Al2O3 and on selective emitter structures. All experiments described in this work were carried out at the Solartec Ltd. workplace and they completely correspond with the actual technology of crystalline solar cells production.en
dc.description.markAcs
dc.identifier.citationMOJROVÁ, B. Využití měřicí metody SPM v technologii výroby krystalických solárních článků [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2013.cs
dc.identifier.other66907cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/27352
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectMikroskopie rastrující sondoucs
dc.subjectSPMcs
dc.subjectmikroskopie atomárních silcs
dc.subjectAFMcs
dc.subjectmikroskopie Kelvinovou sondoucs
dc.subjectKPFMcs
dc.subjectsolární článek.cs
dc.subjectScanning Probe Microscopyen
dc.subjectSPMen
dc.subjectAtomic Force Microscopyen
dc.subjectAFMen
dc.subjectKelvin Probe Force Microscopyen
dc.subjectKPFMen
dc.subjectSolar cell.en
dc.titleVyužití měřicí metody SPM v technologii výroby krystalických solárních článkůcs
dc.title.alternativeThe Use of AFM Measurement Method in Crystalline Silicon Solar Cells Technologyen
dc.typeTextcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs
dcterms.dateAccepted2013-06-11cs
dcterms.modified2013-06-14-10:16:33cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid66907en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.26 13:10:02en
sync.item.modts2025.01.15 16:46:03en
thesis.disciplineElektrotechnická výroba a managementcs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologiecs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
2.65 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
review_66907.html
Size:
9.37 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_66907.html
Download
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description:
Download
Collections
2013