Aplikace korelativní AFM/SEM mikroskopie
| but.committee | prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Eduard Schmidt, CSc. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) | cs |
| but.defence | Po otázkách oponenta bylo dále diskutováno: Nedochází při měření k nabíjení hrotu? Pokud by sonda AFM měřila elektrické a magnetické síly. Ovlivnil by elektronový mikroskop měření? | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Aplikované vědy v inženýrství | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Konečný, Martin | cs |
| dc.contributor.author | Hegrová, Veronika | cs |
| dc.contributor.referee | Fejfar, Antonín | cs |
| dc.date.created | 2019 | cs |
| dc.description.abstract | Tato práce se zabývá využitím korelativní sondové a elektronové mikroskopie. Měření bylo provedeno pomocí atomárního silového mikroskopu LiteScope navrženého speciálně ke kombinaci s elektronovými mikroskopy. Výhody korelativního AFM/SEM zobrazení jsou demonstrovány na vybraných vzorcích z oblasti nanotechnologií a materiálových věd. Možné aplikační využití korelativního AFM/SEM zobrazení bylo navrženo a následně realizováno zejména v případě nízkodimenzionálních struktur a tenkých vrstev. Dále se tato práce věnuje možnosti kombinace korelativní AFM/SEM mikroskopie s dalšími integrovanými metodami elektronového mikroskopu jako technikou fokusovaného iontového svazku a rentgenovou spektroskopií. | cs |
| dc.description.abstract | This thesis is dealing with application of Correlative Probe and Electron Microscopy. All measurements were carried out by atomic force microscope LiteScope which is designed especially to be combined with electron microscopes. Advantages of Correlative AFM/SEM Microscopy are demonstrated on selected samples from field of nanotechnology and material science. Application of the correlative imaging was proposed and then realized particularly in case of low-dimensional structures and thin films. Further, this thesis deals with the possibility of combining Correlative AFM/SEM Microscopy with other integrated techniques of an electron microscope such as Focused Ion Beam and Energy Dispersive X-rays Spectroscopy. | en |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | HEGROVÁ, V. Aplikace korelativní AFM/SEM mikroskopie [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2019. | cs |
| dc.identifier.other | 117632 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/179135 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | AFM | cs |
| dc.subject | SEM | cs |
| dc.subject | korelativní AFM/SEM mikroskopie | cs |
| dc.subject | LiteScope | cs |
| dc.subject | FIB | cs |
| dc.subject | EDX | cs |
| dc.subject | EBL | cs |
| dc.subject | nanodrát | cs |
| dc.subject | grafen | cs |
| dc.subject | WSe2 | cs |
| dc.subject | tenké vrstvy | cs |
| dc.subject | suchý transfer | cs |
| dc.subject | AFM | en |
| dc.subject | SEM | en |
| dc.subject | Correlative AFM/SEM Microscopy | en |
| dc.subject | LiteScope | en |
| dc.subject | FIB | en |
| dc.subject | EDX | en |
| dc.subject | EBL | en |
| dc.subject | nanowire | en |
| dc.subject | graphene | en |
| dc.subject | WSe2 | en |
| dc.subject | thin films | en |
| dc.subject | dry transfer | en |
| dc.title | Aplikace korelativní AFM/SEM mikroskopie | cs |
| dc.title.alternative | Application of correlative AFM/SEM microscopy | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | masterThesis | en |
| dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2019-06-18 | cs |
| dcterms.modified | 2019-06-20-09:58:38 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta strojního inženýrství | cs |
| sync.item.dbid | 117632 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.27 08:49:07 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.15 13:40:04 | en |
| thesis.discipline | Fyzikální inženýrství a nanotechnologie | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrství | cs |
| thesis.level | Inženýrský | cs |
| thesis.name | Ing. | cs |