HEGROVÁ, V. Aplikace korelativní AFM/SEM mikroskopie [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2019.

Posudek vedoucího

Konečný, Martin

Veronika Hegrová se ve své diplomové práci zabývá vývojem aplikací korelativní AFM/SEM mikroskopie s využitím AFM mikroskopu LiteScope od firmy NenoVison. Tento mikroskop byl speciálně vyvinut ke snadné instalaci do komory SEM a může být dále použit v součinnosti s přidruženými technikami jako fokusovaný iontový svazek (FIB), rentgenová spektroskopie (EDX) a jiné. Zadáním práce bylo vytypovat vhodné vzorky a provést aplikační měření, které by co nejlépe demonstrovaly výhody korelativního AFM/SEM zobrazení. Vybraná aplikační měření se zaměřila především na oblast nanotechnologií a materiálových věd. Veronika Hegrová si v průběhu svého diplomového projektu prohloubila své znalosti a dovednosti v oblasti elektronové a rastrovací sondové mikroskopie, které získala již v během bakalářského studia. Prací na tomto projektu se seznámila s mikroskopem Litescope a jeho instalací do elektronového mikroskopu LYRA3 umožňující korelované zobrazení vzorku oběma zařízeními současně. Dále si osvojila pokročilé techniky jako fokusovaný iontový svazek a rentgenovou spektroskopii. V neposlední řadě nejde opomenout ani vynikající dovednosti Veroniky Hegrové ve směru elektronové litografie. Díky svým dovednostem se během projektu podílela také na přípravě grafenových hallbar zařízení, jejichž výroba byla zcela zásadní pro celou grafenovou skupinu v rámci Ústavu fyzikálního inženýrství, FSI VUT. Na práci Veroniky Hegrové oceňuji především její příkladnou pečlivost a pracovitost, díky které se podařilo dosáhnout celé řady zajímavých výsledků, kdy některé z nich byly již firmou NenoVision použity při popularizaci mikroskopu LiteScope. Z toho důvodu věnovala Veronika Hegrová velkou pozornost i samotnému grafickému zpracování naměřených dat. Využitelnost získaných výsledků je v tomto případě bezesporná. Předloženou práci hodnotím klasifikačním stupněm A.

Posudek oponenta

Fejfar, Antonín

Autorka využila možností nabízených novým experimentálním zařízením (mikroskopie atomárních sil LiteScope) vyráběným startup firmou NenoVision. V souladu se zadáním vyhledávala nové aplikace pro korelovaná měření AFM a SEM, popřípadě i dalších technik. Práce logicky začíná popisem metod a zdařilou rešerší literatury (s více než stovkou odkazů). Jádrem práce je tedy kapitola 4, která obsahuje výsledky korelované mikroskopie pro vzorky 1D materiálu (ZnO nanodrátů), 2D materiálů (grafenu na karbidu křemíku, grafenu na měděné fólii, selenidu wolframičitého na křemíkových nanopilířích a grafenového Hall baru) a povrchu tenkých vrstev (GaN, BiFeO3, MAPbI3). Autorka přímo připravovala jen některé z měřených vzorků (viz kapitola 5). Ve všech případech jsou výsledky pozoruhodné, i když je zřejmé, že v rámci práce nebylo cílem sledovat danou problematiku do většího detailu. Práce je graficky vzorná. Naopak jsem při čtení často měl menší výhrady ke stylistice, především k záměnám pasivního tvaru sloves a slovesných přídavných jmen (např. v popisku obrázku 4.1 na str. 24 je uvedeno „je přivedena AFM sonda a je měřená AFM topografie“). Jiný příklad jazykové podivnosti je věta „Jednou z možností substrátu je použití mědi …“ na str. 26 (po jejímž přečtení mne napadalo, zda na počátku vzniku této věty byl strojový překlad). V práci je jen minimální množství prostých překlepů (mezi vzácné výjimky patří např. PPL rezonanční frekvence – místo PLL na str. 20). Obdobně popis feritu bismutu jako multiferitického materiálu zřejmě měl být multiferoický materiál. Toto jsou však vesměs jen drobnosti, které nesnižují hodnotu práce.

eVSKP id 117632