Testovací rozhraní integrovaných obvodů s malým počtem vývodů

Abstract

Práce prozkoumává možnosti snížení počtu potřebných vývodů pro testovací rozhraní zákaznických integrovaných obvodů (ASIC). V první části práce jsou popsána existující řešení a shrnuty principy, které je možné za tímto účelem využít. V druhé části práce konkrétní řešení čtyřvodičové, třívodičové, dvouvodičové, jednovodičové a nulavodičové rozhraní. Na závěr jsou shrnuty výhody a nevýhody jednotlivých přístupů pro řešení problematiky a navržených řešení.This study explores the possibilities for reducing the number of pins needed for scan mode interface. In the first part of this paper the existing solutions and methods that are usable for this purpose are described. Specific four pin, three pin, two pin, one pin and zero pin interfaces are designed in second part. Advantages and disadvantages of existing solutions and methods as well as designed and proposed interface are summarized in the conclusion.