Stanovení nejistoty měření nano-CMM

Abstract

Tématem této diplomové práce je problematika stanovení nejistoty měření nano-CMM, konkrétně přístroje SIOS NMM-1. Teoretická část práce obsahuje definici základních pojmů z oblasti nejistoty měření, popis přístupů ke stanovení nejistoty měření CMM a rozdíly mezi klasickými CMM a nano-CMM. Pro výpočet nejistoty měření nano-CMM jsou vybrány a upraveny dvě metody – substituční a simulační metoda Monte Carlo. Ty jsou aplikovány v praktické části pro výpočet nejistoty měření přístroje SIOS NMM-1. Součástí praktické části je provedení měření na přístroji v laboratoři na Českém metrologickém institutu v Brně. Výstupem práce je tedy stanovení nejistoty měření přístroje SIOS NMM-1.The topic of this master thesis is the issue of measurement uncertainty of nano-CMM, specifically SIOS NMM-1 machine. Theoretical part of the thesis consists of basic measurement uncertainty definitions, description of approaches to CMM measurement uncertainty and differences between classical CMM and nano-CMM. For measurement uncertainty calculation of nano-CMM, two method are chosen and adapted – substitution method and Monte Carlo method. These are applied in practical part for measurement uncertainty calculation of SIOS NMM-1 machine. Part of the practical part is performed measurement on machine in laboratory at the Czech Metrology institute in Brno. The outcome of this thesis is determination of measurement uncertainty of SIOS NMM-1.