Přesná měření vlastností polovodičových součástek

Simple item page
but.committeeprof. Ing. Valentýna Provazník, Ph.D. (předseda) prof. Ing. Tomáš Kratochvíl, Ph.D. (místopředseda) Ing. Jiří Dřínovský, Ph.D. (člen) doc. Ing. Jaromír Kolouch, CSc. (člen) Ing. Zbyněk Lukeš, Ph.D. (člen) doc. Ing. Jiří Petržela, Ph.D. (člen) Ing. Josef Halámek, CSc. (člen)cs
but.defenceStudent prezentuje výsledky a postupy řešení své bakalářské práce. Následně odpovídá na dotazy vedoucího a oponenta práce a na dotazy členů zkušební komise.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorDřínovský, Jiřícs
dc.contributor.authorSmělík, Martincs
dc.contributor.refereeŠebesta, Jiřícs
dc.date.created2009cs
dc.description.abstractCílem této bakalářské práce bylo navrhnout laboratorní pracoviště pro přesná měření stálosti výstupních parametrů polovodičových součástek. Součástí je také termostat, který udržuje konstantní teplotu proměřované součástky. Celý laboratorní přípravek je ovládán pomocí počítače přes rozhraní USB. Na počítači je vytvořen program v ovládacím prostředí Agilent VEE pro automatizované měření těchto polovodičových součástek.cs
dc.description.abstractThe aim of this bachelor´s thesis was design a laboratory workplace for precise measurement of the stability output parameters of semiconductors. The thermostat is also part of this workplace. The thermostat is maintaining a constant temperature measured semiconductor. The entire laboratory preparation is controlled by a computer via USB. The program is created in control environment Agilent VEE for automatic measurement that semiconductor components.en
dc.description.markCcs
dc.identifier.citationSMĚLÍK, M. Přesná měření vlastností polovodičových součástek [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009.cs
dc.identifier.other22071cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/2935
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectpolovodičová součástkacs
dc.subjecttermostatcs
dc.subjectmikrokontrolércs
dc.subjectautomatické měřenícs
dc.subjectAgilent VEEcs
dc.subjectUSBcs
dc.subjectsemiconductor componenten
dc.subjectthermostaten
dc.subjectmicrocontrolleren
dc.subjectautomatic measurementen
dc.subjectAgilent VEEen
dc.subjectUSBen
dc.titlePřesná měření vlastností polovodičových součástekcs
dc.title.alternativePrecise measurement of semiconductorsen
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2009-06-15cs
dcterms.modified2009-07-07-11:45:10cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid22071en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.16 13:12:09en
sync.item.modts2025.01.15 18:49:47en
thesis.disciplineElektronika a sdělovací technikacs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav radioelektronikycs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 3 of 3
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
2.41 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
appendix-1.zip
Size:
157.11 KB
Format:
zip
Description:
appendix-1.zip
Download
Thumbnail Image
Name:
review_22071.html
Size:
6.89 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_22071.html
Download
Collections
2009