Přesná měření vlastností polovodičových součástek

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Smělík, Martin

Mark

C

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

ORCID

Abstract

Cílem této bakalářské práce bylo navrhnout laboratorní pracoviště pro přesná měření stálosti výstupních parametrů polovodičových součástek. Součástí je také termostat, který udržuje konstantní teplotu proměřované součástky. Celý laboratorní přípravek je ovládán pomocí počítače přes rozhraní USB. Na počítači je vytvořen program v ovládacím prostředí Agilent VEE pro automatizované měření těchto polovodičových součástek.
The aim of this bachelor´s thesis was design a laboratory workplace for precise measurement of the stability output parameters of semiconductors. The thermostat is also part of this workplace. The thermostat is maintaining a constant temperature measured semiconductor. The entire laboratory preparation is controlled by a computer via USB. The program is created in control environment Agilent VEE for automatic measurement that semiconductor components.

Description

Citation

SMĚLÍK, M. Přesná měření vlastností polovodičových součástek [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Elektronika a sdělovací technika

Comittee

prof. Ing. Valentýna Provazník, Ph.D. (předseda) prof. Ing. Tomáš Kratochvíl, Ph.D. (místopředseda) Ing. Jiří Dřínovský, Ph.D. (člen) doc. Ing. Jaromír Kolouch, CSc. (člen) Ing. Zbyněk Lukeš, Ph.D. (člen) doc. Ing. Jiří Petržela, Ph.D. (člen) Ing. Josef Halámek, CSc. (člen)

Date of acceptance

2009-06-15

Defence

Student prezentuje výsledky a postupy řešení své bakalářské práce. Následně odpovídá na dotazy vedoucího a oponenta práce a na dotazy členů zkušební komise.

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO