Sledování fyzikálních veličin v polovodičových materiálech
| but.committee | prof. Ing. Jiří Kazelle, CSc. (předseda) doc. Ing. Radek Polanský, Ph.D. (místopředseda) Ing. Miroslav Zatloukal (člen) Ing. Ondřej Hégr, Ph.D. (člen) doc. Ing. Jiří Maxa, Ph.D. (člen) | cs |
| but.defence | Student seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: Jaká byla přesnost měření? Existuje konkrétní matematické vyjádření přesnosti Vašeho měření? S jakou přesností měříte, pokud výsledky interpretujete pomocí 4 platných cifer? Jaká je pohyblivost minoritních nosičů náboje v polovodiči typu N? Proč byla pro měření vybrána právě tato metoda? | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Rozsívalová, Zdenka | cs |
| dc.contributor.author | Jankulár, Tomáš | cs |
| dc.contributor.referee | Polsterová, Helena | cs |
| dc.date.created | 2011 | cs |
| dc.description.abstract | Bakalářská práce se zabývá sledováním fyzikálních veličin v polovodičových materiálech. Experiment byl zaměřen na měření pohyblivosti minoritních nosičů proudu a měření konduktivity pro vzorek křemíku a germania. | cs |
| dc.description.abstract | This thesis deals with the monitoring of physical parameters in semiconductor materials. The experiment was aimed at measuring the current minority carrier mobility and conductivity measurements for a sample of silicon and germanium. | en |
| dc.description.mark | E | cs |
| dc.identifier.citation | JANKULÁR, T. Sledování fyzikálních veličin v polovodičových materiálech [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2011. | cs |
| dc.identifier.other | 40995 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/1339 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Polovodič | cs |
| dc.subject | polovodič typu N | cs |
| dc.subject | polovodič typu P | cs |
| dc.subject | měřící metody | cs |
| dc.subject | pohyblivost | cs |
| dc.subject | konduktivita | cs |
| dc.subject | Semiconductor | en |
| dc.subject | N-type semiconductor | en |
| dc.subject | P-type semiconductor | en |
| dc.subject | measurement methods | en |
| dc.subject | mobility | en |
| dc.subject | conductivity | en |
| dc.title | Sledování fyzikálních veličin v polovodičových materiálech | cs |
| dc.title.alternative | Physical quantities monitoring in semiconductors | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | bachelorThesis | en |
| dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2011-06-13 | cs |
| dcterms.modified | 2024-05-17-12:53:12 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| sync.item.dbid | 40995 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.16 13:17:05 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.17 11:25:37 | en |
| thesis.discipline | Mikroelektronika a technologie | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologie | cs |
| thesis.level | Bakalářský | cs |
| thesis.name | Bc. | cs |