Statistické řízení procesů ve výrobě monitorů LCD
| but.committee | prof. Ing. Jaromír Brzobohatý, CSc. (předseda) doc. Ing. Jiří Háze, Ph.D. (místopředseda) Ing. Břetislav Mikel, Ph.D. (člen) doc. Ing. Lukáš Fujcik, Ph.D. (člen) Ing. Jiří Špinka (člen) | cs |
| but.defence | Student seznámil komisi se svoji závěrečnou prací a připraveně reagoval i na otázky oponenta. Otázky oponenta: 1. Podle čeho se určuje umístění diagnostických bodů na LCD monitoru? 2. Myslíte si, že 5 diagnostických bodů je dostačující pro hodnocení kvality svítivosti daného monitoru LCD? 3. Jaká byla velikost jednoho diagnostického bodu? V následné rozpravě byly kladeny dotazy na využití diagnostických bodů. Komise upozornila na podobu a literatury. Dále se objevily dotazy na normalitu dat. Rozbor pokračoval nejistotami a metodami kalibrace měřicího zařízení. Byla položena otázka na rozdíl mezi TN a PV panely, student reaguje tím, že se zabýval v práci pouze zdroji podsvícení. | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Novotný, Radovan | cs |
| dc.contributor.author | Hořký, Petr | cs |
| dc.contributor.referee | Kosina, Petr | cs |
| dc.date.created | 2011 | cs |
| dc.description.abstract | Zkratka SPC z anglického označení Statistical Process Control je statistické řízení procesů, které patří v současné době k nejužívanějším analytickým metodám umožňující sledovat, řídit a zlepšovat kvalitu vyráběného produktu. Použití SPC demonstruji na praktickém příkladu z prostředí výroby LCD monitorů se zaměřením na analýzu zdrojů podsvícení displejů LCD. Cílem je seznámení s aplikovanými metodami a softwarovou podporou statistického řízení. | cs |
| dc.description.abstract | Statistical Process Control (SPC) is currently the most widely used analytic methods to monitor, control and improve the quality of manufactured product. The application of SPC is demonstrated by practical example from the LCD monitor production environment with a focus on LCD backlight sources analysis. The objective is to become familiar with the applied methods and SPC software support. | en |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | HOŘKÝ, P. Statistické řízení procesů ve výrobě monitorů LCD [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2011. | cs |
| dc.identifier.other | 40945 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/1260 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Statistické řízní procesů Histogram Regulační diagram Hodnocení způsobilosti Variabilita Test normality Minitab Svítivost LCD monitor | cs |
| dc.subject | Statistical Process Control Histogram Control Chart Process Capability Variability Normality test Minitab Luminance LCD Monitor | en |
| dc.title | Statistické řízení procesů ve výrobě monitorů LCD | cs |
| dc.title.alternative | SPC for LCD monitors production | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | bachelorThesis | en |
| dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2011-06-14 | cs |
| dcterms.modified | 2011-07-15-10:45:03 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| sync.item.dbid | 40945 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.16 13:17:02 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.15 16:29:58 | en |
| thesis.discipline | Mikroelektronika a technologie | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektroniky | cs |
| thesis.level | Bakalářský | cs |
| thesis.name | Bc. | cs |