Návrh držáku vzorků s elektrickými kontakty pro UHV SEM/SPM

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Krutil, Vojtěch

Mark

A

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství

ORCID

Abstract

Práce se zabývá návrhem držáku vzorku s elektrickými kontakty pro UHV SEM/SMP mikroskop, který bude pracovat za nízkých teplot (20 K – 300 K). Nově navržený držák vzorku je vybaven deseti odpruženými kontakty pro elektrické spojení transportní paletky se vzorkem, která bude osazena teplotním snímačem a topným elementem. Dvě čtveřice kontaktů jsou vyhrazeny pro vzorek a teplotní snímač, zbývající dvojice pro topný element. Z provedené rešeršní studie komerčně dostupných držáků vzorků vyplývá, že držáky pro uvažované použití nejsou na trhu dostupné. Při nízkoteplotních testech nově navrženého držáku vzorků ve zkušební vakuové komoře s průtokovým systémem chlazení, byla dosažena mezní teplota držáku 24 K při teplotě okolí 300 K. Funkce kontaktů byla úspěšně ověřena měřením přechodového elektrického odporu na spoji pevné a odpružené části kontaktů. Dále byl proveden návrh úprav držáku vzorků pro použití za vysokých teplot (300 K – 700 K).
The presented thesis focuses on designing a sample holder for an UHV SEM/SPM microscope suitable for using in low temperature (20 K - 300 K) applications. This newly designed sample holder is equipped with ten spring-loaded contacts for electrical connection of a transport pallet to the sample holder, which will be equipped with a temperature sensor and a heating element. Two quadruples of contacts are reserved for the sample and the temperature sensor and the remaining pair for the heating element. A thorough research study of commercially available sample holders indicates that the holders for the intended use are not available on the market. In the low-temperature tests of the newly designed sample holder, the limit temperature of the 24 K was reached in a test vacuum chamber with a flow cooling system. The ambient temperature was 300 K. The contact function was successfully verified by measuring the transient electrical resistance at the fixed and the spring contact sections. Additionally, a modification of the sample holder for high temperature (300 K - 700 K) was suggested.

Description

Citation

KRUTIL, V. Návrh držáku vzorků s elektrickými kontakty pro UHV SEM/SPM [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2018.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Základy strojního inženýrství

Comittee

prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen)

Date of acceptance

2018-06-22

Defence

Byly zodpovězeny otázky oponenta.

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO