Tester bipolárních tranzistorů

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Matoušek, Matěj

Mark

A

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

ORCID

Abstract

Práce se zabývá praktickým návrhem a realizací zařízení, jehož úkolem je automaticky rozpoznat polaritu tranzistoru (NPN/PNP) a změřit jeho proudový zesilovací činitel. Celý proces měření je řízen pomocí 8bitového mikrokontroléru AVR64DA28 a výsledky jsou následně zpracovány a zobrazeny na dotykovém HMI Nextion NX3224K024. Aby zařízení bylo přenosné, muselo být napájení řešeno lithium-polymerovým akumulátorem s možností nabíjení prostřednictvím USB-C konektoru. Součástí práce je popis celkového zapojení, uvedeného v příloze, návrh desky plošného spoje a programové vybavení pro mikrokontrolér i HMI. Závěrem je ověřena funkčnost řešení a tester je porovnán s komerčně dostupnými variantami.
The work focuses on the practical design and implementation of a device whose task is to automatically detect the polarity of a transistor (NPN/PNP) and measure its current gain factor. The entire measurement process is controlled by an 8-bit microcontroller, the AVR64DA28, and the results are processed and displayed on a Nextion NX3224K024 touchscreen HMI. To ensure the device is portable, the power supply had to be designed using a lithium-polymer battery with the option of charging via a USB-C connector. The work includes a description of the overall circuit, provided in the appendix, the design of the printed circuit board, and the software for both the microcontroller and the HMI. Finally, the functionality of the solution is verified, and the tester is compared with commercially available alternatives.

Description

Citation

MATOUŠEK, M. Tester bipolárních tranzistorů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2025.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

bez specializace

Comittee

Ing. Radim Číž, Ph.D. (člen) Ing. Miroslav Balík, Ph.D. (člen) Ing. Jan Karásek, Ph.D. (člen) doc. Ing. Martin Kyselák, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Ivo Lattenberg, Ph.D. (předseda) Ing. Petr Dejdar, Ph.D. (člen)

Date of acceptance

2025-06-17

Defence

Student prezentoval výsledky své práce a komise byla seznámena s posudky. Otázky oponenta: 1) Čím si vysvětlujete tak velký rozdíl v naměřených hodnotách h21 (cca 600 a 400) Vašim testerem a přístroji RDM-3001 a DMM-3900 u tranzistorů BC547C v tabulce 2.1 na straně 64? - student odpověděl na otázku uspokojivě 2) Na straně 64 naznačujete, že na přesnost měření měla vliv funkcionalita detekce zapojení tranzistoru, kterou porovnávaní výrobci nemají implementovánu. Můžete to podrobněji vysvětlit? - student odpověděl na otázku uspokojivě Otázky komise: Zkoušel jste teplotní závislosti ve vztahu k výsledkům měření? Jaký byl postup oživení zařízení? Student na otázky komise odpověděl uspokojivě. Student obhájil bakalářskou práci a odpověděl na otázky členů komise a oponenta

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO