Izolační vlastnosti struktur typu Flip chip

but.committeeprof. Ing. Jaromír Brzobohatý, CSc. (předseda) doc. Ing. Vladimír Kolařík, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Jan Maschke, CSc. (člen) prof. Ing. Jan Leuchter, Ph.D. (člen) prof. Ing. et Ing. Fabian Khateb, Ph.D. et Ph.D. (člen)cs
but.defenceStudent seznámil komisi s řešením své bakalářské práce a zodpověděl následující dotazy. Jaká je vzdálenost struktur mezi sebou (pozn. na obrázku v prezentaci)?cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorPulec, Jiřícs
dc.contributor.authorDóczy, Robertcs
dc.contributor.refereeŠandera, Josefcs
dc.date.created2012cs
dc.description.abstractTato práce se zabývá problematikou izolačních vlastností mikroelektronických struktur. Konkrétně odporem izolační mezery, jež odděluje vodivé části systému. Jsou zde nastíněny vlivy, které na izolační odpor působí a také metody, kterými se izolační odpor měří. Je zde také lehce nastíněna problematika návrhu pouzder a způsobů, kterými lze připojit mikroelektronický čip do obvodu. V experimentální části se práce zabývá konkrétním návrhem struktur typu flip-chip. Vodivý motiv těchto struktur byl zhotoven tak, aby umožnil zkoumat vliv materiálů, použitých při jejich kompletaci, na povrchový izolační odpor. Za tímto účelem byly struktury navíc podrobeny sérií oplachů, jejichž vliv je zde také prodiskutován.cs
dc.description.abstractThis work deals with the insulation properties of microelectronic structures. Specifically, insulation resistance of the gap that separates the conductive parts of the system. There are also described the influences, which have the effect on insulation resistance and the methods by which the insulation resistance is measured. There are also slightly described the issues of designing microelectronic packages and ways in which the microelectronic chip can be connected to the circuit. In the experimental part, the thesis deals with specific design of microelectronic structure such as flip-chip. Conductive pattern of this structure was made to allow the measurement of insulation resistance which depends on the application materials which were used in structure assembly. For this purpose, the structures also undergo a series of cleaning, whose influence is also discussed.en
dc.description.markCcs
dc.identifier.citationDÓCZY, R. Izolační vlastnosti struktur typu Flip chip [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012.cs
dc.identifier.other57428cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/12610
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectIzolační odporcs
dc.subjectFlip chipcs
dc.subjectčištěnícs
dc.subjectsubstrátcs
dc.subjectInsulation resistanceen
dc.subjectFlip chipen
dc.subjectcleaningen
dc.subjectsubstrateen
dc.titleIzolační vlastnosti struktur typu Flip chipcs
dc.title.alternativeInsulating Properties of Flip Chip Structuresen
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2012-06-11cs
dcterms.modified2012-06-13-08:05:38cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid57428en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.16 13:22:13en
sync.item.modts2025.01.17 12:55:07en
thesis.disciplineMikroelektronika a technologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektronikycs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
945.16 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_57428.html
Size:
5.39 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_57428.html
Collections