Optoelektronická charakterizace perovskitových materiálů a jejich aplikace ve fotovoltaice

Abstract

Tato bakalářská práce se zaměřuje na detailní korelativní studii optoelektronických perovskitových materiálů prostřednictvím pokročilých měřících technik užívaných na Ústavu fyzikálního inženýrství, jako je měření povrchového náboje nebo časově rozlišitelné mapování fotoluminiscence. V současnosti zatím nevyšlo mnoho publikací či článků, které by se pokoušely analyzovat optické a elektrické procesy více než dvěma technikami naráz. Práce si proto klade za cíl rozšířit znalosti o dosavadních užívaných technikách a obohatit jejich počty o studium povrchové analýzy náboje (ve tmě a při osvětlení) pomocí metody Kelvinovy hrotové mikroskopie (KPFM). Přínos této práce z hlediska zkoumání perovskitových materiálu je v korelativním měření, které přináší nové poznatky o uspořádání a pohybu nosičů náboje, které mohou být využity při zkoumání perovskitových solárních článků.This bachelor's thesis is focused on a detailed correlative study of optoelectronic perovskite materials through advanced measurement techniques employed at the Institute of Physical Engineering. These techniques include surface charge measurement and time-resolved photoluminescence mapping. Currently, there are few publications or articles attempting to analyze optical and electrical processes using more than two techniques simultaneously. Therefore, the aim of this thesis is to expand the knowledge of existing techniques and enhance them by incorporating surface charge analysis (in the dark and under illumination) using Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM). The contribution of this work to the study of perovskite materials lies in correlative measurements that provide new insights into the arrangement and movement of charge carriers, which can be utilized in the research of perovskite solar cells.