Studium vlastností povrchu monokrystalů CdTe se sub-nanometrovým hloubkovým rozlišením

Simple item page
but.committeeprof. Ing. Miroslav Husák, CSc. (předseda) doc. Ing. Pavel Šteffan, Ph.D. (místopředseda) Ing. Jitka Brüstlová, CSc. (člen) Ing. Vladimír Levek, Ph.D. (člen) Ing. Miroslav Zemánek, Ph.D. (člen)cs
but.defenceStudent seznámil státní zkušební komisi s řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Dále odpověděl na otázky komise: Při jakém tlaku se provádí měření metodou LEIS? - Vysoké vakuum.cs
but.jazykangličtina (English)
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorŠik, Ondřejen
dc.contributor.authorČermák, Rastislaven
dc.contributor.refereeBábor, Petren
dc.date.accessioned2019-06-14T10:50:56Z
dc.date.available2019-06-14T10:50:56Z
dc.date.created2019cs
dc.description.abstractV laboratořích Středoevropského technologického institutu – CEITEC je k dispozici unikátní zařízení Qtac, umožňující kvantitativně měřit složení horní atomové vrstvy různých materiálů včetně izolátorů. Qtac k tomu využívá nízkoenergiového rozptylu iontů, tzv. metodu LEIS. Kromě analýzy horní atomové vrstvy je LEIS v Dynamickém módu schopen určit hloubkový profil koncentrace prvku se sub-nanometrovým hloubkovým rozlišením.en
dc.description.abstractIn the Central European Institute of Technology (CEITEC) laboratires, a Qtac device is available, allowing us to quantitatively measure the composition of the upper-most atomic layer of different materials, including dielectrics. Qtac uses the backscattering of low-energy ions, the so-called LEIS method. Besides the surface atomic layer analysis, using the Dynamic mode LEIS can determine the depth profile of elemental concentrations with sub-nanometer precision.cs
dc.description.markBcs
dc.identifier.citationČERMÁK, R. Studium vlastností povrchu monokrystalů CdTe se sub-nanometrovým hloubkovým rozlišením [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2019.cs
dc.identifier.other119433cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/173790
dc.language.isoencs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectCdTeen
dc.subjectLEISen
dc.subjectstochiometieen
dc.subjectpovrchová kontaminaceen
dc.subjectCdTecs
dc.subjectLEIScs
dc.subjectstoichiometrycs
dc.subjectsurface contaminationcs
dc.titleStudium vlastností povrchu monokrystalů CdTe se sub-nanometrovým hloubkovým rozlišenímen
dc.title.alternativeInvestigation of properties of CdTe single-crystals surfaces with sub-nanometer depth resolutioncs
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2019-06-11cs
dcterms.modified2019-06-12-08:05:00cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid119433en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.22 22:58:38en
sync.item.modts2021.11.22 22:22:11en
thesis.disciplineMikroelektronika a technologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektronikycs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 3 of 3
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
5.51 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
Posudek-Vedouci prace-cermak posudek Bc fin.pdf
Size:
215.13 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek-Vedouci prace-cermak posudek Bc fin.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
review_119433.html
Size:
7.05 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
review_119433.html
Download
Collections
2019