Určení příčin ztráty kapacity kondenzátorů
| but.committee | doc. Ing. Jiří Vaněk, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Tomáš Binar, Ph.D. (místopředseda) Ing. Kamil Jaššo (člen) Ing. Zdenka Rozsívalová (člen) Ing. Jiří Starý, Ph.D. (člen) | cs |
| but.defence | Student seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením závěrečné vysokoškolské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta a komise. Otázky komise k obhajobě: 1. Stárnutí teplem probíhalo kde? S jakým krokem teplot? 2. Snížené tepelné vlastností. Jaké myslíte? Co máte na osách? 3. Co bylo největším přínosem Vaší práce? | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Mikroelektronika a technologie | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Starý, Jiří | cs |
| dc.contributor.author | Fabiánek, Marcel | cs |
| dc.contributor.referee | Špinka, Jiří | cs |
| dc.date.accessioned | 2022-06-15T07:54:47Z | |
| dc.date.available | 2022-06-15T07:54:47Z | |
| dc.date.created | 2022 | cs |
| dc.description.abstract | Práce se zabývá problematikou vzniku defektu na vývodových kondenzátorech. V první části dochází k seznámení s postupem strojního pájení vlnou a jejími dílčími kroky. Následuje výčet a popis možných defektů vzniklých touto příčinou. Zdrojů potenciálních příčin ztráty kapacity je více a je jim věnována samostatná kapitola. V poslední části je proveden návrh testování jednotlivých potenciálních příčin sloužící k odhalení kořenových příčin vzniku defektu a dále je popsáno jejich praktické řešení. | cs |
| dc.description.abstract | This thesis deals with formation of defects on through-hole capacitors. Process of wave soldering and its steps are described in the first part. The listing and description of possilble defects caused by wave soldering is followed after the first part. There are several sources of potential causes of capacity loss and a separate chapter to these causes. The last part contains a proposal of testing individual potencional causes. Their purpose is to reveal the root causes of formation of the defects and then the practical solution is described. | en |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | FABIÁNEK, M. Určení příčin ztráty kapacity kondenzátorů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2022. | cs |
| dc.identifier.other | 142333 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/205603 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Vývodový kondenzátor | cs |
| dc.subject | pájení vlnou | cs |
| dc.subject | rentgen | cs |
| dc.subject | ICT | cs |
| dc.subject | defekty | cs |
| dc.subject | through-hole capacitors | en |
| dc.subject | wave soldering | en |
| dc.subject | X-ray | en |
| dc.subject | ICT | en |
| dc.subject | defects | en |
| dc.title | Určení příčin ztráty kapacity kondenzátorů | cs |
| dc.title.alternative | Set possible causes for capacity loss of capacitors | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | bachelorThesis | en |
| dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2022-06-14 | cs |
| dcterms.modified | 2022-06-14-13:46:14 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| sync.item.dbid | 142333 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2022.06.15 09:54:47 | en |
| sync.item.modts | 2022.06.15 08:15:52 | en |
| thesis.discipline | bez specializace | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologie | cs |
| thesis.level | Bakalářský | cs |
| thesis.name | Bc. | cs |