Diagnostika vlastností polovodičových materiálů
| but.committee | prof. Ing. Karel Bartušek, DrSc. (předseda) doc. Ing. Jiří Vaněk, Ph.D. (místopředseda) Ing. Bohuslav Res, CSc. (člen) Ing. Zdenka Rozsívalová (člen) Ing. Martin Adámek, Ph.D. (člen) | cs |
| but.defence | Student seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: Kde je hranice mezi oblastmi I. a II. při jaké intenzitě E v gafu závislosti pohyblivosti nosičů na intenzitě el. pole? Fyzikální rozdíl mezi příměsovými polovodiči? Která část patří do oblasti vlastního polovodiče v grafu závisloti vodivosti na teplotě? | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Frk, Martin | cs |
| dc.contributor.author | Šeliga, Ladislav | cs |
| dc.contributor.referee | Rozsívalová, Zdenka | cs |
| dc.date.created | 2012 | cs |
| dc.description.abstract | Tato práce se zabývá popisem základních vlastností polovodičových materiálů a metodami měření vlastností polovodiče. V první části práce jsou rozebrány elementární polovodiče, polovodičové sloučeniny a pásová struktura. V další části je popsáno vedení proudu v polovodičích, metody měření rezistivity. Práce je zaměřena na měření driftové pohyblivosti minoritních nosičů náboje pomocí metody Haynes-Shockley pro křemíkový vzorek polovodiče, vytvoření automatizovaného pracoviště ve vývojovém prostředí VEE Pro a měření rezistivity křemíkových vzorků. | cs |
| dc.description.abstract | This thesis describes the basic properties of semiconductor materials and methods of their measuring. In the first part of this work are discussed elemental semiconductors, semiconductor compounds and the band structure. The next section describes current conduction in semiconductors, methods for measuring resistivity. This work is focused on the measuring drift mobility of minority charge carriers using the Haynes-Shockley method for a sample of silicon semiconductor, the creation of automated workplace in the development environment VEE Pro and resistivity measurements of silicon samples. | en |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | ŠELIGA, L. Diagnostika vlastností polovodičových materiálů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012. | cs |
| dc.identifier.other | 54588 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/11365 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Polovodič | cs |
| dc.subject | měřicí metody | cs |
| dc.subject | pohyblivost | cs |
| dc.subject | metoda Haynes-Shockley | cs |
| dc.subject | konduktivita | cs |
| dc.subject | Semiconductor | en |
| dc.subject | measurement methods | en |
| dc.subject | mobility | en |
| dc.subject | Haynes-Shockley method | en |
| dc.subject | conductivity | en |
| dc.title | Diagnostika vlastností polovodičových materiálů | cs |
| dc.title.alternative | Diagnostics of semiconductors properties | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | bachelorThesis | en |
| dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2012-06-11 | cs |
| dcterms.modified | 2012-06-13-08:05:43 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| sync.item.dbid | 54588 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.16 13:21:12 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.15 17:34:46 | en |
| thesis.discipline | Mikroelektronika a technologie | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologie | cs |
| thesis.level | Bakalářský | cs |
| thesis.name | Bc. | cs |