but.committee	prof. Dr. Ing. Pavel Zemčík, dr. h. c. (předseda) doc. Ing. Lukáš Burget, Ph.D. (místopředseda) doc. Mgr. Lukáš Holík, Ph.D. (člen) doc. Ing. Tomáš Martínek, Ph.D. (člen) Ing. Jaroslav Dytrych, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Petr Matoušek, Ph.D., M.A. (člen)	cs
but.defence	Student nejprve prezentoval výsledky, kterých dosáhl v rámci své práce. Komise se poté seznámila s hodnocením vedoucího a posudkem oponenta práce. Student následně odpověděl na otázky oponenta a na další otázky přítomných. Komise se na základě posudku oponenta, hodnocení vedoucího, přednesené prezentace a odpovědí studenta na položené otázky rozhodla práci hodnotit stupněm A. Otázky u obhajoby: Jaké můžou být požadavky na přesnost podobných měření v praxi? Závisí to nějak na účelu měření? Máte výsledky nějakého kvantitativní vyhodnocení (ideálně vzhledem k interpolaci mezi nastaveními mikroskopu)? Jak moc omezuje potencionální využití vaši metody to, že předpokládá snímání známého homogenního materiálu?	cs
but.jazyk	angličtina (English)
but.program	Informační technologie	cs
but.result	práce byla úspěšně obhájena	cs
dc.contributor.advisor	Zemčík, Pavel	en
dc.contributor.author	Repka, Samuel	en
dc.contributor.referee	Hradiš, Michal	en
dc.date.created	2022	cs
dc.description.abstract	Táto práca popisuje metódu 3D rekonštrukciu modelu vzorky pomocou skenovacieho elektrónového mikroskopu (SEM). Obsahuje zhrnutie prístupov k rekonštrukcii topografie a implementáciu algoritmu založeného na princípe fotometrického sterea. Vstupom tejto metódy sú obrazy zo 4-segmentového detektora spätne odrazených elektrónov. Metóda využíva závislosť intenzity jasu na náklone povrchu. Pre odhad náklonu na mieste povrchu sa používajú odrazové mapy, pomocou ktorých sa vytvorí mapa normálových vektorov povrchu. Následne sa z tejto mapy vytvorí 3D model vzorky. Práca predstavuje nový prístup k odhadovaniu odrazových máp. Metóda je aplikovaná len na cínové vzorky, aby sa odstránila závislosť na atómovom čísle materiálu. Všetky dáta potrebné pre algoritmus su získané simultánne, čo umožňuje rýchlu rekonštrukciu. Algoritmus používa rozšírené a existujúce nástroje, čím umožňuje rekonštruovať povrch bez špecializovaných nástrojov.	en
dc.description.abstract	This paper proposed a method of 3D reconstruction of scanning electron microscope (SEM) specimen. The aim is to explore the possibilities of topography reconstruction of microscopic samples, as well as to attempt to solve the task using tools already available on conventional scanning electron microscopes. The proposed solution uses images from a four-segment backscattered electrons detector as an input to the photometric stereo algorithm. This algorithm exploits the fact that the brightness of the image point is dependent on the inclination of the sample surface. Reflectance maps are used to estimate the inclination in each pixel, creating a map of normal vectors. The map is then used for topography reconstruction. A novel technique for reflectance map estimation is proposed. This method is applied to tin samples to remove the sample's atomic number effects. The fact that all data are acquired simultaneously allows for fast reconstruction. Usage of already available and widespread tools eliminates a need for specialized equipment such as Atomic Force Microscopes.	cs
dc.description.mark	A	cs
dc.identifier.citation	REPKA, S. Fotometrické stereozpracování pro mikroskopy [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. 2022.	cs
dc.identifier.other	145294	cs
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11012/207413
dc.language.iso	en	cs
dc.publisher	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií	cs
dc.rights	Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení	cs
dc.subject	Fotometrické stereo	en
dc.subject	skenovacie elektrónové mikroskopy	en
dc.subject	4-segmentový detektor spätne odrazených elektrónov	en
dc.subject	3D rekonštrukcia	en
dc.subject	Photometric stereo	cs
dc.subject	Scanning electron microscopes	cs
dc.subject	4-segment BSE detector	cs
dc.subject	3D reconstruction	cs
dc.title	Fotometrické stereozpracování pro mikroskopy	en
dc.title.alternative	Photometric Stereo Processing for Microscopy	cs
dc.type	Text	cs
dc.type.driver	bachelorThesis	en
dc.type.evskp	bakalářská práce	cs
dcterms.dateAccepted	2022-06-14	cs
dcterms.modified	2022-06-20-10:23:13	cs
eprints.affiliatedInstitution.faculty	Fakulta informačních technologií	cs
sync.item.dbid	145294	en
sync.item.dbtype	ZP	en
sync.item.insts	2025.03.18 19:43:13	en
sync.item.modts	2025.01.15 15:26:36	en
thesis.discipline	Informační technologie	cs
thesis.grantor	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. Ústav počítačové grafiky a multimédií	cs
thesis.level	Bakalářský	cs
thesis.name	Bc.	cs

Fotometrické stereozpracování pro mikroskopy

Files

Original bundle

Collections