Charakterizace nanostruktur mikroskopií blízkého pole (SNOM)
but.committee | prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) doc. RNDr. Josef Kuběna, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) | cs |
but.defence | cs | |
but.jazyk | čeština (Czech) | |
but.program | Aplikované vědy v inženýrství | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Škoda, David | cs |
dc.contributor.author | Pagáčová, Lenka | cs |
dc.contributor.referee | Kalousek, Radek | cs |
dc.date.accessioned | 2018-10-21T17:11:59Z | |
dc.date.available | 2018-10-21T17:11:59Z | |
dc.date.created | 2010 | cs |
dc.description.abstract | Bakalářská práce se zabývá charakterizací nanostruktur mikroskopií blízkého pole. Uvádí fyzikální principy, na kterých tato metoda pracuje a popisuje experimentální uspořádání mikroskopie SNOM. Dále se zabývá charakterizací litografických struktur připravených metodou fokusovaného iontového svazku a stanovením optického koeficientu transmise. | cs |
dc.description.abstract | The bachelor theses is aimed to the characterizaton of nanostructures by scanning near-field optical microscopy (SNOM). There is a presentation of physical principles of SNOM and the description of the experimental set-up of the microscopy. The experimental part discusses the results of determination of transmission coefficient and characterizaton of the lithography structures prepared by focused ion beam etching method. | en |
dc.description.mark | B | cs |
dc.identifier.citation | PAGÁČOVÁ, L. Charakterizace nanostruktur mikroskopií blízkého pole (SNOM) [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2010. | cs |
dc.identifier.other | 30370 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/17624 | |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | SNOM | cs |
dc.subject | blízké pole | cs |
dc.subject | evanescentní vlny | cs |
dc.subject | rozptyl světla | cs |
dc.subject | sonda | cs |
dc.subject | SNOM | en |
dc.subject | near-field | en |
dc.subject | evanescent waves | en |
dc.subject | light scattering | en |
dc.subject | probe | en |
dc.title | Charakterizace nanostruktur mikroskopií blízkého pole (SNOM) | cs |
dc.title.alternative | Characterization of nanostructures by the near-field optical microscopy (SNOM) | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | bachelorThesis | en |
dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
dcterms.dateAccepted | 2010-06-17 | cs |
dcterms.modified | 2010-10-06-10:45:38 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta strojního inženýrství | cs |
sync.item.dbid | 30370 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2021.11.12 16:08:17 | en |
sync.item.modts | 2021.11.12 15:05:33 | en |
thesis.discipline | Fyzikální inženýrství a nanotechnologie | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrství | cs |
thesis.level | Bakalářský | cs |
thesis.name | Bc. | cs |