Charakterizace nanostruktur mikroskopií blízkého pole (SNOM)

but.committeeprof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) doc. RNDr. Josef Kuběna, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)cs
but.defencecs
but.jazykčeština (Czech)
but.programAplikované vědy v inženýrstvícs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorŠkoda, Davidcs
dc.contributor.authorPagáčová, Lenkacs
dc.contributor.refereeKalousek, Radekcs
dc.date.accessioned2018-10-21T17:11:59Z
dc.date.available2018-10-21T17:11:59Z
dc.date.created2010cs
dc.description.abstractBakalářská práce se zabývá charakterizací nanostruktur mikroskopií blízkého pole. Uvádí fyzikální principy, na kterých tato metoda pracuje a popisuje experimentální uspořádání mikroskopie SNOM. Dále se zabývá charakterizací litografických struktur připravených metodou fokusovaného iontového svazku a stanovením optického koeficientu transmise.cs
dc.description.abstractThe bachelor theses is aimed to the characterizaton of nanostructures by scanning near-field optical microscopy (SNOM). There is a presentation of physical principles of SNOM and the description of the experimental set-up of the microscopy. The experimental part discusses the results of determination of transmission coefficient and characterizaton of the lithography structures prepared by focused ion beam etching method.en
dc.description.markBcs
dc.identifier.citationPAGÁČOVÁ, L. Charakterizace nanostruktur mikroskopií blízkého pole (SNOM) [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2010.cs
dc.identifier.other30370cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/17624
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectSNOMcs
dc.subjectblízké polecs
dc.subjectevanescentní vlnycs
dc.subjectrozptyl světlacs
dc.subjectsondacs
dc.subjectSNOMen
dc.subjectnear-fielden
dc.subjectevanescent wavesen
dc.subjectlight scatteringen
dc.subjectprobeen
dc.titleCharakterizace nanostruktur mikroskopií blízkého pole (SNOM)cs
dc.title.alternativeCharacterization of nanostructures by the near-field optical microscopy (SNOM)en
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2010-06-17cs
dcterms.modified2010-10-06-10:45:38cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
sync.item.dbid30370en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.12 16:08:17en
sync.item.modts2021.11.12 15:05:33en
thesis.disciplineFyzikální inženýrství a nanotechnologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
800.74 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_30370.html
Size:
10.53 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
review_30370.html
Collections