Mikroskopie: nástroj pro materiálovou analýzu

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Pleskalová, Kateřina

Mark

A

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství

ORCID

Abstract

Tato práce se zabývá popisem mikroskopických technik, které se využívají k analýze materiálů. V úvodní části je krátce shrnuta historie mikroskopie. První polovina práce je zaměřena na světelnou mikroskopii a více rozvedena je zde technika konfokální mikroskopie. Druhá polovina práce se soustředí na základní techniky elektronové mikroskopie, tedy transmisní a skenovací elektronovou mikroskopii. V závěru každé kapitoly jsou shrnuty limity a omezení, ale i výhody jednotlivých technik. Pro uvedené mikroskopické techniky je krátce popsána také příprava metalografických vzorků.
This thesis deals with description of the microscopic techniques that are used to analyse materials. The introductory part briefly summarizes the history of microscopy. The first part of the thesis is focused on light microscopy and the confocal microscopy technique is more elaborated here. The second part of the thesis is focused on basic techniques of electron microscopy, which means transmission electron microscopy and scanning electron microscopy. At the end of each chapter, there is summarization of limits and advantages of these techniques. The preparation of metallographic samples is also briefly described for these microscopic techniques.

Description

Citation

PLESKALOVÁ, K. Mikroskopie: nástroj pro materiálovou analýzu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2019.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Základy strojního inženýrství

Comittee

doc. Ing. Vít Jan, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Bohumil Pacal, CSc. (místopředseda) doc. Ing. David Salamon, Ph.D. (člen) Ing. Lenka Klakurková, Ph.D. (člen) Ing. Libor Válka, CSc. (člen) prof. Ing. Tomáš Podrábský, CSc. (člen)

Date of acceptance

2019-06-12

Defence

Jaká je hloubka analýzy u metody EBSD? Jak se dá zvýšit hloubka ostrosti u elektronových mikroskopů? Jaký je princip difrakce?

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO