Experimentální zjišťování vlastností integrovaných tlustých vrstev
but.committee | prof. Ing. Vladislav Musil, CSc. (předseda) prof. Ing. Miroslav Husák, CSc. (místopředseda) Ing. Břetislav Mikel, Ph.D. (člen) doc. Ing. Arnošt Bajer, CSc. (člen) Ing. Michal Pavlík, Ph.D. (člen) | cs |
but.defence | Student s pomocí prezentace seznámil státní zkušební komisi s cíly a řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta a členů komise u obhajoby. Položené otázky - oponent: V jakém oboru HIO jsou potřeba vodiče s nízkým odporem a vysokou proudovou nosností? Doplněny byly dotazy na způsob měření pomocí zkorodovaných krokosvorek a ovlivnění přechodovými odpory. Další dotazy byly na strukturu vzorku, destrukci vzorku při měření. Další dotaz je na změnu odporu s rozdílnou tloušťkou vrstvy. | cs |
but.jazyk | čeština (Czech) | |
but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Szendiuch, Ivan | cs |
dc.contributor.author | Čejka, Marek | cs |
dc.contributor.referee | Jankovský, Jaroslav | cs |
dc.date.created | 2012 | cs |
dc.description.abstract | Bakalářská práce se zabývá teorií tlustovrstvé technologie. Popisuje realizaci tlustovrstvých integrovaných obvodů, technologií tlustých vrstev, metodou sítotisku. Obsahuje základní elektrické vlastnosti tlusté vrstvy. Cílem práce je experimentální zjišťování vrstvového odporu a proudové zatížitelnosti vodičů. Součástí práce je návrh metody měření a testovací struktury. | cs |
dc.description.abstract | This bachelor thesis deals with the theory of thick film technology. It describes implementation of thick layer integrated circuits, thick film technology, creen printing method. It includes basic electrical properties of thick layers. The aim of this work is the experimental work deals with the detection of current rating of conductors. The work includes the design of method of measuring and test structure. | en |
dc.description.mark | C | cs |
dc.identifier.citation | ČEJKA, M. Experimentální zjišťování vlastností integrovaných tlustých vrstev [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012. | cs |
dc.identifier.other | 54764 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/12461 | |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | Tlustá vrstva | cs |
dc.subject | elektrické vlastnosti tlusté vrstvy | cs |
dc.subject | sítotisk | cs |
dc.subject | proudová zatížitelnost vodičů | cs |
dc.subject | vrstvový odpor | cs |
dc.subject | Thick film | en |
dc.subject | electrical properties of thick layers | en |
dc.subject | screen printing | en |
dc.subject | current rating coductors | en |
dc.subject | sheet resistance | en |
dc.title | Experimentální zjišťování vlastností integrovaných tlustých vrstev | cs |
dc.title.alternative | Experimental Investigation of Integrated Thick Films | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | bachelorThesis | en |
dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
dcterms.dateAccepted | 2012-06-11 | cs |
dcterms.modified | 2012-06-13-08:05:37 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
sync.item.dbid | 54764 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2025.03.16 13:22:00 | en |
sync.item.modts | 2025.01.17 11:39:52 | en |
thesis.discipline | Mikroelektronika a technologie | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektroniky | cs |
thesis.level | Bakalářský | cs |
thesis.name | Bc. | cs |