Experimentální zjišťování vlastností integrovaných tlustých vrstev

but.committeeprof. Ing. Vladislav Musil, CSc. (předseda) prof. Ing. Miroslav Husák, CSc. (místopředseda) Ing. Břetislav Mikel, Ph.D. (člen) doc. Ing. Arnošt Bajer, CSc. (člen) Ing. Michal Pavlík, Ph.D. (člen)cs
but.defenceStudent s pomocí prezentace seznámil státní zkušební komisi s cíly a řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta a členů komise u obhajoby. Položené otázky - oponent: V jakém oboru HIO jsou potřeba vodiče s nízkým odporem a vysokou proudovou nosností? Doplněny byly dotazy na způsob měření pomocí zkorodovaných krokosvorek a ovlivnění přechodovými odpory. Další dotazy byly na strukturu vzorku, destrukci vzorku při měření. Další dotaz je na změnu odporu s rozdílnou tloušťkou vrstvy.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorSzendiuch, Ivancs
dc.contributor.authorČejka, Marekcs
dc.contributor.refereeJankovský, Jaroslavcs
dc.date.created2012cs
dc.description.abstractBakalářská práce se zabývá teorií tlustovrstvé technologie. Popisuje realizaci tlustovrstvých integrovaných obvodů, technologií tlustých vrstev, metodou sítotisku. Obsahuje základní elektrické vlastnosti tlusté vrstvy. Cílem práce je experimentální zjišťování vrstvového odporu a proudové zatížitelnosti vodičů. Součástí práce je návrh metody měření a testovací struktury.cs
dc.description.abstractThis bachelor thesis deals with the theory of thick film technology. It describes implementation of thick layer integrated circuits, thick film technology, creen printing method. It includes basic electrical properties of thick layers. The aim of this work is the experimental work deals with the detection of current rating of conductors. The work includes the design of method of measuring and test structure.en
dc.description.markCcs
dc.identifier.citationČEJKA, M. Experimentální zjišťování vlastností integrovaných tlustých vrstev [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012.cs
dc.identifier.other54764cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/12461
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectTlustá vrstvacs
dc.subjectelektrické vlastnosti tlusté vrstvycs
dc.subjectsítotiskcs
dc.subjectproudová zatížitelnost vodičůcs
dc.subjectvrstvový odporcs
dc.subjectThick filmen
dc.subjectelectrical properties of thick layersen
dc.subjectscreen printingen
dc.subjectcurrent rating coductorsen
dc.subjectsheet resistanceen
dc.titleExperimentální zjišťování vlastností integrovaných tlustých vrstevcs
dc.title.alternativeExperimental Investigation of Integrated Thick Filmsen
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2012-06-11cs
dcterms.modified2012-06-13-08:05:37cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid54764en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.16 13:22:00en
sync.item.modts2025.01.17 11:39:52en
thesis.disciplineMikroelektronika a technologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektronikycs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
2.94 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_54764.html
Size:
4.1 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_54764.html
Collections