Experimentální zjišťování vlastností integrovaných tlustých vrstev

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Čejka, Marek

Mark

C

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

ORCID

Abstract

Bakalářská práce se zabývá teorií tlustovrstvé technologie. Popisuje realizaci tlustovrstvých integrovaných obvodů, technologií tlustých vrstev, metodou sítotisku. Obsahuje základní elektrické vlastnosti tlusté vrstvy. Cílem práce je experimentální zjišťování vrstvového odporu a proudové zatížitelnosti vodičů. Součástí práce je návrh metody měření a testovací struktury.
This bachelor thesis deals with the theory of thick film technology. It describes implementation of thick layer integrated circuits, thick film technology, creen printing method. It includes basic electrical properties of thick layers. The aim of this work is the experimental work deals with the detection of current rating of conductors. The work includes the design of method of measuring and test structure.

Description

Citation

ČEJKA, M. Experimentální zjišťování vlastností integrovaných tlustých vrstev [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Mikroelektronika a technologie

Comittee

prof. Ing. Vladislav Musil, CSc. (předseda) prof. Ing. Miroslav Husák, CSc. (místopředseda) Ing. Břetislav Mikel, Ph.D. (člen) doc. Ing. Arnošt Bajer, CSc. (člen) Ing. Michal Pavlík, Ph.D. (člen)

Date of acceptance

2012-06-11

Defence

Student s pomocí prezentace seznámil státní zkušební komisi s cíly a řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta a členů komise u obhajoby. Položené otázky - oponent: V jakém oboru HIO jsou potřeba vodiče s nízkým odporem a vysokou proudovou nosností? Doplněny byly dotazy na způsob měření pomocí zkorodovaných krokosvorek a ovlivnění přechodovými odpory. Další dotazy byly na strukturu vzorku, destrukci vzorku při měření. Další dotaz je na změnu odporu s rozdílnou tloušťkou vrstvy.

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO