Testování spojů a externích paměťových komponent v FPGA

Abstract

Tato práce se zabývá testováním propojů a paměťových prostředků na kartě COMBO2. Začátek práce je věnován představení problematiky testování propojů a pamětí typu RAM. V hlavní části práce je představen návrh obecné architektury testu propojů a testu paměťových prostředků, který je soustředěn na cílovou platformu FPGA.This work deals with COMBO2 card interconnect and memory devices testing. In the beginning of the paper, some existing testing algorithms for interconnect and RAM memories testing are introduced. This work is devoted to proposal of generic architecture for interconnect and memory devices testing. The proposed architecture is optimized for FPGA implementation.