Měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů

Simple item page
but.committeeprof. Ing. Otakar Wilfert, CSc. (předseda) prof. Ing. Jiří Jan, CSc. (místopředseda) Ing. Jan Puskely, Ph.D. (člen) Ing. Jiří Dřínovský, Ph.D. (člen) Ing. Petr Černý, Ph.D. (člen) Ing. Josef Halámek, CSc. (člen)cs
but.defenceStudent prezentuje výsledky a postupy řešení své bakalářské práce. Následně odpovídá na dotazy vedoucího a oponenta práce a na dotazy členů zkušební komise.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.resultpráce nebyla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorDřínovský, Jiřícs
dc.contributor.authorLang, Radekcs
dc.contributor.refereeŠotner, Romancs
dc.date.created2013cs
dc.description.abstractCílem této bakalářské práce je popis dynamických parametrů polovodičových součástek. Dalším cílem je sestavení měřícího pracoviště, na kterém je možné provádět měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů. Práce také řeší návrh a výrobu univerzálního přípravku, na kterém jsou měření prováděna. Samotné měření je automatizované a jednotlivé přístroje připojené na přípravek jsou řízeny a výsledky zpracovávány počítačem.cs
dc.description.abstractThe aim of this bachelor’s thesis is to describe the dynamic parameters of semiconductor devices. The other aim is to build a measuring workplace, on which is possible to carry out measurement of dynamic properties of bipolar and unipolar transistors. The bachelors’s thesis also solves a design and a production of an universal product, on which measurements are carried out. Individual measurement is automated and individual devices are connected to the product and results are controlled by computer analysis.en
dc.description.markEcs
dc.identifier.citationLANG, R. Měření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2013.cs
dc.identifier.other65790cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/72327
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectBipolárnícs
dc.subjectUnipolárnícs
dc.subjectTranzistorcs
dc.subjectDynamickécs
dc.subjectHybridní parametrycs
dc.subjectZkreslenícs
dc.subjectAutomatickécs
dc.subjectMěřenícs
dc.subjectAgilent VEEcs
dc.subjectBipolaren
dc.subjectUnipolaren
dc.subjectTransistoren
dc.subjectDynamicen
dc.subjectHybrid parametersen
dc.subjectDistortionen
dc.subjectAutomaticen
dc.subjectMeasuringen
dc.subjectAgilent VEEen
dc.titleMěření dynamických vlastností bipolárních a unipolárních tranzistorůcs
dc.title.alternativeBasic measurement of dynamic properties of bipolar and unipolar transistorsen
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2013-06-18cs
dcterms.modified2013-09-03-11:31:52cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid65790en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.16 13:27:56en
sync.item.modts2025.01.15 12:27:07en
thesis.disciplineElektronika a sdělovací technikacs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav radioelektronikycs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 3 of 3
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
8.72 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
appendix-1.rar
Size:
40.64 KB
Format:
Unknown data format
Description:
appendix-1.rar
Download
Thumbnail Image
Name:
review_65790.html
Size:
7.04 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_65790.html
Download
Collections
2013