Elektrické vlastnosti tlustovrstvých past měřené v širokém rozsahu teplot
but.committee | prof. Ing. Jaroslav Boušek, CSc. (předseda) prof. Ing. Miroslav Husák, CSc. (místopředseda) doc. Ing. František Urban, CSc. (člen) doc. Ing. Radovan Novotný, Ph.D. (člen) Ing. Michal Řezníček, Ph.D. (člen) | cs |
but.defence | Student seznámil státní zkušební komisi s cílem a řešením své diplomové práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky k diskuzi: Proč jste použil teploty 10K při měření, co bylo účelem? - zodpovězeno. Pod 50K vykazovaly Vaše grafy určité změny => nakreslete pásový doagram kovu a izolantu? - nakresleno a vysvětleno, že dochází k nějakým kvantovým jevům. K jakým kvantovým jevům? - dochází k tunelování. | cs |
but.jazyk | čeština (Czech) | |
but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Řezníček, Michal | cs |
dc.contributor.author | Gajdoš, Jiří | cs |
dc.contributor.referee | Jankovský, Jaroslav | cs |
dc.date.created | 2016 | cs |
dc.description.abstract | Cílem této diplomové práce je prověřit elektrické vlastnosti různých tlustovrstvých odporových past v širším intervalu teplot. Práce se především zaměřuje na změnu elektrického odporu v závislosti na teplotách, které zasahují i do kryogenní oblasti. Pro dosažení tohoto cíle je zde uveden přehled vlastností tlustovrstvé technologie, její základní technologické postupy, dále jsou zde uvedeny principy vodivosti odporových past, metody měření elektrického odporu, možné chyby při měření a způsoby jejich minimalizace. Obsahem práce je také seznámení s vlastnostmi kryogenní stanice, na jejichž základech byl navrhnut postup měření a vytvořeny tlustovrstvé obvody umožňující měření v této stanici. Po provedení měření, které proběhlo v intervalu 10 K až 350 K, jsou zde následně vyhodnoceny získaná data a vysvětleny možné principy vodivosti použitých odporových past. | cs |
dc.description.abstract | The aim of this master’s thesis is to investigate the electrical properties of various thick-film resistor pastes in a wider temperature range. The thesis mainly focuses on a change in electrical resistance depending on temperatures, which extend to the cryogenic region. To achieve this, there is an overview of the thick-film technology properties, major technological procedures, principles of resistive pastes conductivity, methods of electrical resistance measuring, possible errors in measurement and methods of their minimization. The content of this work is also familiar with the characteristics of a cryogenic station, on this foundation was proposed the measurement procedure and created thick-film circuits for this station. After measurement in the interval 10 K to 350 K, there are subsequently evaluated the data and explains the principles of the conductivity of used pastes. | en |
dc.description.mark | A | cs |
dc.identifier.citation | GAJDOŠ, J. Elektrické vlastnosti tlustovrstvých past měřené v širokém rozsahu teplot [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2016. | cs |
dc.identifier.other | 94035 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/59959 | |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | Tlustá vrstva | cs |
dc.subject | tlustovrstvá technologie | cs |
dc.subject | tlustovrstvé pasty | cs |
dc.subject | hybridní integrované obvody | cs |
dc.subject | sítotisk | cs |
dc.subject | teplotní závislost tlustých vrstev | cs |
dc.subject | vrstvový odpor | cs |
dc.subject | kryogenní teploty | cs |
dc.subject | vodivost tlusté vrstvy. | cs |
dc.subject | Thick-film | en |
dc.subject | thick-film technology | en |
dc.subject | thick-film inks | en |
dc.subject | hybrid integrated circuit | en |
dc.subject | screen printing | en |
dc.subject | thick film temperature influence | en |
dc.subject | sheet resistance | en |
dc.subject | cryogenic temperature | en |
dc.subject | thick-film conduction. | en |
dc.title | Elektrické vlastnosti tlustovrstvých past měřené v širokém rozsahu teplot | cs |
dc.title.alternative | Electrical properties of thick film pastes measured in a wide temperature range | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | masterThesis | en |
dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
dcterms.dateAccepted | 2016-06-08 | cs |
dcterms.modified | 2016-06-13-09:21:09 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
sync.item.dbid | 94035 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2025.03.26 13:25:28 | en |
sync.item.modts | 2025.01.17 11:30:37 | en |
thesis.discipline | Mikroelektronika | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektroniky | cs |
thesis.level | Inženýrský | cs |
thesis.name | Ing. | cs |
Files
Original bundle
1 - 3 of 3
Loading...
- Name:
- final-thesis.pdf
- Size:
- 2.91 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- final-thesis.pdf
Loading...
- Name:
- review_94035.html
- Size:
- 4.79 KB
- Format:
- Hypertext Markup Language
- Description:
- file review_94035.html