Interakce SNOM hrotu s blízkým elektromagnetickým polem vzniklým interferencí povrchových plazmonových polaritonů
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Cílem této bakalářské práce je výroba sond pro rastrovací optický mikroskop v blízkém poli (SNOM) a test jejich funkčnosti na interferenčních strukturách povrchových plazmonových polaritonů (PPP). Teoretická část se zabývá základními vlastnostmi PPP a principy jejich excitace a detekce. V experimentální části jsou vysvětleny metody chemického leptání hrotů, iontového naprašování tenkých vrstev (IBS) s možností depozice s asistenčním iontovým svazkem (IBAD) a vytváření apertury pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB). Dále je proveden test funkčnosti vyrobených hrotů a naměřený signál blízkého pole je porovnán se signálem změřeným pomocí komerčně dostupných sond.
The aim of this bachelor’s thesis is fabrication of probes for scanning near-field optical microscope (SNOM) and testing of their functionality by measuring interference patterns of surface plasmon polaritons (SPP). The theoretical part deals with the basic properties of SPP’s and methods of their excitation and detection. In the experimental part, methods of sharp tip fabrication by chemical etching, thin film deposition by ion beam sputtering (IBS) or by ion beam assisted deposition (IBAD) and aperture opening by focused ion beam (FIB) are explained and demonstrated. Finally, interference patterns of SPP’s are measured with fabricated probes and the results are compared with the results obtained with commercially available probes.
The aim of this bachelor’s thesis is fabrication of probes for scanning near-field optical microscope (SNOM) and testing of their functionality by measuring interference patterns of surface plasmon polaritons (SPP). The theoretical part deals with the basic properties of SPP’s and methods of their excitation and detection. In the experimental part, methods of sharp tip fabrication by chemical etching, thin film deposition by ion beam sputtering (IBS) or by ion beam assisted deposition (IBAD) and aperture opening by focused ion beam (FIB) are explained and demonstrated. Finally, interference patterns of SPP’s are measured with fabricated probes and the results are compared with the results obtained with commercially available probes.
Description
Citation
JAKUB, Z. Interakce SNOM hrotu s blízkým elektromagnetickým polem vzniklým interferencí povrchových plazmonových polaritonů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2014.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Fyzikální inženýrství a nanotechnologie
Comittee
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda)
prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda)
prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen)
prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen)
prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen)
prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen)
prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen)
RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)
Date of acceptance
2014-06-25
Defence
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení