Mapování fotoluminiscence excitované v blízkém poli
Loading...
Date
Authors
Klok, Pavel
ORCID
Advisor
Referee
Mark
A
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Tato práce se zabývá mapováním fotoluminiscence (PL) pomocí buzení blízkého pole (NF), které slouží ke zkoumání optoelektronických vlastností v nanometrovém měřítku. Díky překonání omezení tradičních optických technik v dalekém poli zkoumá jevy na menších rozměrech, které by jinak byly nedostupné. Hlavní důraz je kladen na NF rastrovací optickou mikroskopii, která umožňuje pozorování poddifrakčních jevů u studovaných vzorků. Významným přínosem této práce je zavedení časově rozlišitelného mapování PL v NF, tedy průlomové metody pro studium dynamických procesů pod hranicí difrakce. Tento přístup představuje nový přínos pro tento obor, což potvrzuje i přehled literatury uvedený v této práci. Díky pečlivému vyhodnocení a interpretaci měření PL tato práce rozšiřuje naše znalosti o optických vlastnostech olovnatých halogenidových perovskitů a jejich potenciálních aplikacích např. pro solární články. Dále odhaluje dosud neprozkoumané možnosti v oblasti časově rozlišitelného mapování PL v NF a poskytuje dosud nevídaný náhled do dynamických procesů pod difrakčním limitem. Posunutím hranic optického výzkumu na úrovni nanorozměrů vytváří tato diplomová práce základ pro nové směry zkoumání v této oblasti.
This thesis explores the use of near-field (NF) excited photoluminescent (PL) mapping to investigate optoelectronic properties at the nanometer scale. By overcoming the limitations of traditional far-field optical techniques, it investigates phenomena on smaller length scales that would be previously inaccessible. The primary focus is on NF scanning optical microscopy, enabling the observation of subdiffraction phenomena for studied samples. A notable accomplishment of this thesis is the introduction of NF time-resolved PL mapping, a groundbreaking method for studying dynamic processes beyond the diffraction limit. Importantly, this approach represents a novel contribution to the field, as supported by the literature review presented in this thesis. Through meticulous evaluation and interpretation of PL measurements, this study enhances our understanding of the optical properties of lead halide perovskite materials and their potential applications, e.g. in solar cells. Moreover, it uncovers unexplored opportunities in NF time-resolved PL mapping, providing unprecedented insights into dynamic processes at the subdiffraction limit. By pushing the boundaries of nanoscale optical investigations, this diploma thesis establishes a foundation for new research directions and advancements in the field.
This thesis explores the use of near-field (NF) excited photoluminescent (PL) mapping to investigate optoelectronic properties at the nanometer scale. By overcoming the limitations of traditional far-field optical techniques, it investigates phenomena on smaller length scales that would be previously inaccessible. The primary focus is on NF scanning optical microscopy, enabling the observation of subdiffraction phenomena for studied samples. A notable accomplishment of this thesis is the introduction of NF time-resolved PL mapping, a groundbreaking method for studying dynamic processes beyond the diffraction limit. Importantly, this approach represents a novel contribution to the field, as supported by the literature review presented in this thesis. Through meticulous evaluation and interpretation of PL measurements, this study enhances our understanding of the optical properties of lead halide perovskite materials and their potential applications, e.g. in solar cells. Moreover, it uncovers unexplored opportunities in NF time-resolved PL mapping, providing unprecedented insights into dynamic processes at the subdiffraction limit. By pushing the boundaries of nanoscale optical investigations, this diploma thesis establishes a foundation for new research directions and advancements in the field.
Description
Citation
KLOK, P. Mapování fotoluminiscence excitované v blízkém poli [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2023.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
en
Study field
bez specializace
Comittee
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda)
prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (místopředseda)
prof. Mgr. Dominik Munzar, Dr. (člen)
doc. Mgr. Adam Dubroka, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen)
prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen)
prof. RNDr. Jiří Petráček, Dr. (člen)
prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen)
doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen)
prof. Ing. Miroslav Kolíbal, Ph.D. (člen)
doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen)
RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)
Date of acceptance
2023-06-19
Defence
Po otázkách oponenta bylo dále diskutováno:
Důležitos synchronizace fází v experimentu při interakci dvou vln.
Rozšíření píku při fotoluminiscenci. S čím souvisí šířka píku.
Student na otázky odpověděl.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení