Scintilační detektor SE pro EREM
| but.committee | prof. Ing. Vladislav Musil, CSc. (předseda) prof. Ing. Karel Bartušek, DrSc. (místopředseda) Ing. Roman Prokop, Ph.D. (člen) Ing. Martin Adámek, Ph.D. (člen) Ing. Martin Frk, Ph.D. (člen) | cs |
| but.defence | 1. Výsledky simulací vlivu napětí na elektrodách Z1 až Z4 na intenzitu detekovaného signálu detektorem (viz. kapitola 6.3) ukazují, že mezi nejvhodnější kombinace patří, mimo jiných parametrů, připojení elektrody Z1 na napětí-50V. Experimentální výsledky však naznačují (viz. kapitola 7.3), že vyšší úroveň signálu je detekována při napětí-20V na Z1. Čím si vysvětlujete rozdíl mezi výsledky simulace a výsledky experimentu. 2. Jaký jiný scintilační monokrystal, než YAG:Ce3+, by bylo možné použít ve scintilačním detektoru SE a za jakých podmínek by tento jiný scintilační monokrystal zvýšil celkovou detekční účinnost scintilačního detektoru SE. 3: Jaký je význam scintilátoru. | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Jirák, Josef | cs |
| dc.contributor.author | Tihlaříková, Eva | cs |
| dc.contributor.referee | Neděla, Vilém | cs |
| dc.date.accessioned | 2019-04-04T03:37:40Z | |
| dc.date.available | 2019-04-04T03:37:40Z | |
| dc.date.created | 2009 | cs |
| dc.description.abstract | Tato práce se zabývá problematikou environmentální rastrovací elektronové mikroskopie (EREM). Využití této metody umožňuje sledování nevodivých a vlhkých vzorků bez potřeby speciálních úprav vysoušením a pokovováním. Princip spočívá v použití vyššího tlaku v komoře vzorku, pohybujícího se v rozsahu 100 až 2000 Pa. Plyn v komoře vzorku však omezuje možnosti detekce signálu. Cílem této práce je prozkoumání možnosti ovlivnění detekce signálu sekundárních elektronů pomocí elektrostatického pole. Elektrostatické pole bylo realizováno soustavou čtyř elektrod umístěných před ústí scintilačního detektoru a mělo za úkol ovlivňovat dráhy sekundárních elektronů směrem do komory detektoru. Optimalizace napětí na elektrodách byla provedena pomocí simulačního programu SIMION. Výsledky simulací byly experimentálně ověřeny na laboratorním EREM. | cs |
| dc.description.abstract | This project deals with the theme of environmental scanning electron microscopy (EREM). This method allows the examination of insulators and wet specimens without pretreatment and modification like drying and metallization. The principle of this method consists in using higher pressure in a specimen chamber. The pressure is within the range of 100 – 200 Pa. However, the pressure in the specimen chamber restricts the signal detection interference. The objective of the work is to explore the possibility of interference in secondary electron route detection by way of electrostatic field. The electrostatic field was realized with the system consisting of four electrodes located in front of the scintillation detector. It should have interfered the secondary electron´s trajectory to the detector chamber. The optimization of voltage on the electrodes was made by simulation program called SIMION. The simulation results were experimentally verified with laboratory EREM. | en |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | TIHLAŘÍKOVÁ, E. Scintilační detektor SE pro EREM [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009. | cs |
| dc.identifier.other | 22858 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/7406 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Environmentální rastrovací elektronový mikroskop | cs |
| dc.subject | primární elektrony | cs |
| dc.subject | zpětně odražené elektrony | cs |
| dc.subject | sekundární elektrony | cs |
| dc.subject | detekce signálu | cs |
| dc.subject | scintilační detektor | cs |
| dc.subject | Environmental scanning electron microscopy | en |
| dc.subject | primary electrons | en |
| dc.subject | backscattered electrons | en |
| dc.subject | secondary electrons | en |
| dc.subject | signal detection | en |
| dc.subject | scintillation detector | en |
| dc.title | Scintilační detektor SE pro EREM | cs |
| dc.title.alternative | Scintillation SE Detector for Variable Pressure SEM | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | masterThesis | en |
| dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2009-06-08 | cs |
| dcterms.modified | 2009-07-07-11:45:34 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| sync.item.dbid | 22858 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2021.11.12 20:10:09 | en |
| sync.item.modts | 2021.11.12 19:34:21 | en |
| thesis.discipline | Mikroelektronika | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektroniky | cs |
| thesis.level | Inženýrský | cs |
| thesis.name | Ing. | cs |