but.committee	prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (předseda) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) Mgr. Petr Klapetek, Ph.D. (člen) doc. Mgr. Adam Dubroka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen)	cs
but.defence	Práce zásadním způsobem posouvá hranice poznání v oblasti rastrací sondové mikroskopie KPFM, CAFM - jejich použití v oblasti 2D materiálů, grafenu a hydrogenovaného grafenu. Dále přispívá rozvoji korelativní SPM mikroskopie a SEM. Doktorand se v průběhu studia vypracoval v uvedených oblastech ve špičkového odborníka světové úrovně.	cs
but.jazyk	angličtina (English)
but.program	Fyzikální a materiálové inženýrství	cs
but.result	práce byla úspěšně obhájena	cs
dc.contributor.advisor	Bartošík, Miroslav	en
dc.contributor.author	Konečný, Martin	en
dc.contributor.referee	Klapetek, Petr	en
dc.contributor.referee	Fejfar, Antonín	en
dc.date.created	2022	cs
dc.description.abstract	Tato doktorská práce se zabývá rastrovací sondovou mikroskopií (Scanning Probe Microscopy – SPM) a jejím využitím v nanovědách a nanotechnologiích. Konkrétně je zde kladem důraz především na pokročilé techniky mikroskopie atomárních sil (Atomic Force Microscopy – AFM), jako je Kelvinova silová mikroskopie (Kelvin Probe Force Microscopy – KPFM) a vodivostní AFM. Samotné aplikace těchto technik jsou dále zaměřené zejména na oblast výzkumu grafenu. V práci je nejprve stručně rozebrán princip fungování SPM a následně jsou diskutovány jednotlivé aplikace AFM a KPFM zaměřené na charakterizaci vlastností jak samotného gafenu, tak i zařízeních fungujících na jeho bázi. Dále se práce zabývá možnostmi využití AFM integrovaného v jednom zařízení spolu se rastrovacím elektronovým mikroskopem (Scanning Electron Microscopy - SEM). Z tohoto přehledu vyplývají čtyři hlavní témata doktorského výzkumu, které se věnují studiu přesunu elektrikého náboje mezi grafenovými nanostrukturami, přípravě a charakterizaci hydrogenovaného grafenu a grafen-kovových hybridních struktur s uplatněním v biosensorice. Aspekty jednotlivých témat jsou následně podrobně rozebrány a podpořeny adekvátními experimentálními výsledky. Na závěr jsou nastíněny plány budoucího výzkumu týkajícího se těchto čtyř témat	en
dc.description.abstract	This doctoral thesis is devoted to application of Scanning Probe Microscopy (SPM) in nanoscience and nanotechnologies with the main focus on advanced Atomic Force Microscopy (AFM) techniques, such as conductive AFM (cAFM), Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), and their utilization in graphene research. First, a brief introduction to SPM techniques is provided and followed by a review of recent application of AFM and KPFM in characterization of graphene and graphene-based devices. Further, the doctoral thesis introduces a novel approach to combine AFM with Scanning Electron Microscopy (SEM). The review leads to estimation of main topics of doctoral research. These topics cover a study of electrical communication between separated graphene sheets, electrical properties of hydrogenated graphene and characterization of graphene-metal nanostructures used for biosensing. The work is further focused on a demonstration of correlative AFM/SEM imaging and on a technical realization of advanced techniques on AFM specially designed for integration into SEM. Each topic is discussed and supported by relevant experimental results. Finally, the prospects of future research is outlined.	cs
dc.description.mark	P	cs
dc.identifier.citation	KONEČNÝ, M. Application of Scanning Probe Microscope in Nanoscience and Nanotechnology [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2022.	cs
dc.identifier.other	137816	cs
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11012/203994
dc.language.iso	en	cs
dc.publisher	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství	cs
dc.rights	Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení	cs
dc.subject	skenovací sondová mikroskopie	en
dc.subject	mikroskopie atomárních sil	en
dc.subject	Kelvinova silová mikroskopie	en
dc.subject	grafen	en
dc.subject	scanning probe microscopy	cs
dc.subject	atomic force microscopy	cs
dc.subject	Kelvin probe force microscopy	cs
dc.subject	graphene	cs
dc.title	Application of Scanning Probe Microscope in Nanoscience and Nanotechnology	en
dc.title.alternative	Application of Scanning Probe Microscope in Nanoscience and Nanotechnology	cs
dc.type	Text	cs
dc.type.driver	doctoralThesis	en
dc.type.evskp	dizertační práce	cs
dcterms.dateAccepted	2022-02-24	cs
dcterms.modified	2022-03-18-12:45:28	cs
eprints.affiliatedInstitution.faculty	Fakulta strojního inženýrství	cs
sync.item.dbid	137816	en
sync.item.dbtype	ZP	en
sync.item.insts	2025.03.27 14:44:32	en
sync.item.modts	2025.01.15 17:59:20	en
thesis.discipline	Fyzikální a materiálové inženýrství	cs
thesis.grantor	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrství	cs
thesis.level	Doktorský	cs
thesis.name	Ph.D.	cs

Application of Scanning Probe Microscope in Nanoscience and Nanotechnology

Files

Original bundle

Collections