Vývoj instrumentálního zařízení pro výzkum nanostruktur

but.committeeprof. Ing. Jiří Švejcar, CSc. (předseda) doc. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Vladimír Čech, Ph.D. (člen)cs
but.defenceDoktorand se ve své práci věnoval problematice vývoje zařízení pro rastrovací sondovou mikroskopii. V rámci této činnosti vyvinul speciální mikroskop SPM, vhodný pro současné použití s rastrovací elektronovou mikroskopií. Dále pak navrhl speciální piezoelektrické manipulátory. Obě zařízení přispějí výrazně k rozšíření experimentálních možností v oboru fyziky povrchů a nanotechnologií.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programFyzikální a materiálové inženýrstvícs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorŠikola, Tomášcs
dc.contributor.authorNováček, Zdeněkcs
dc.contributor.refereeOšťádal, Ivancs
dc.contributor.refereeFejfar, Antoníncs
dc.date.accessioned2025-06-08T22:57:43Z
dc.date.available2025-06-09cs
dc.date.available2025-06-08T22:57:43Z
dc.date.created2015cs
dc.description.abstractDisertační práce je zaměřena na vývoj zařízení určených pro studium povrchů a nanostruktur. Popisovaná metoda rastrovací sondové mikroskopie sdružuje mnoho dílčích technik, z nichž každá poskytuje různé informace o zkoumaných vzorcích. Rozlišení rastrovací sondové mikroskopie, která poskytuje trojrozměrný obraz, se pohybuje ve zlomcích nanometrů a často dosahuje i atomární úrovně. Proto je rastrovací sondová mikroskopie jednou z nejvyužívanějších metod pro výzkum objektů s nanometrovými rozměry. V práci jsou prezentovány detaily vývoje dvou rastrovacích sondových mikroskopů určených pro provoz v podmínkách ultravakua. U prvního z nich bylo navrženo a provedeno mnoho úprav, které měly za cíl zlepšit variabilitu mikroskopu, zvýšit počet podporovaných technik a v neposlední řadě přispět k uživatelskému komfortu. Druhý mikroskop je vyvíjen se zaměřením na kombinaci s dalšími analytickými metodami, především s rastrovací elektronovou mikroskopií. Nedílnou součástí rastrovacích sondových mikroskopů jsou polohovací systémy pro navádění sondy na vybrané místo vzorku. Proto se práce také věnuje výzkumu a vývoji piezokeramických lineárních motorů, které se využívají nejen v mikroskopech určených pro měření v ultra vysokém vakuu, ale také jako nanomanipulátory pro všeobecné využití. mikroskopů jsou polohovací systémy pro navádění sondy na vybrané místo vzorku. Proto se práce také věnuje výzkumu a~vývoji piezokeramických lineárních motorů, které se využívají nejen v~mikroskopech určených pro měření v~ultra vysokém vakuu, ale také jako nanomanipulátory pro všeobecné využití.cs
dc.description.abstractThe thesis focuses on the development of instruments used for surfaces and nanostructures characterization. Individual techniques of scanning probe microscopy provide different information of the sample surface. The resolution of scanning probe microscopy, providing 3D topography information, reaches subnanometer values or even an atomic level. Therefore, the scanning probe microscopy is one of the most employed method in the field of nanotechnology. The thesis describes the details of development of two scanning probe microscopes intended for measurement under ultra high vacuum conditions. As for the first one, many changes were proposed leading to its better variability, extended functionality and increased user comfort. The second microscope is being design with the aim of its combination with other analytic techniques, especially with scanning electron microscopy. An integral part of scanning probe microscopes is a precise positioning system for navigation of the probe to the selected site. Therefore, the thesis also deals with the development of linear piezoceramic actuators used not only in the ultra high vacuum compatible microscopes but also as a general purpose nanomanipulators.en
dc.description.markPcs
dc.identifier.citationNOVÁČEK, Z. Vývoj instrumentálního zařízení pro výzkum nanostruktur [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2015.cs
dc.identifier.other80659cs
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11012/251320
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsPřístup k plnému textu prostřednictvím internetu byl licenční smlouvou omezen na dobu 10 roku/letcs
dc.subjectrastrovací sondová mikroskopiecs
dc.subjectmikroskopie atomárních silcs
dc.subjectvýzkum nanostrukturcs
dc.subjectnanomanipulátorycs
dc.subjectlineární motorcs
dc.subjectpiezokeramikacs
dc.subjectscanning probe microscopyen
dc.subjectatomic force microscopyen
dc.subjectcharacterization of nanostructuresen
dc.subjectnanomanipulatorsen
dc.subjectlinear motoren
dc.subjectpiezoceramicsen
dc.titleVývoj instrumentálního zařízení pro výzkum nanostrukturcs
dc.title.alternativeDevelopment of Instrumental Equipment for the Characterization of Nanostructuresen
dc.typeTextcs
dc.type.driverdoctoralThesisen
dc.type.evskpdizertační prácecs
dcterms.dateAccepted2015-06-09cs
dcterms.modified2015-06-15-10:16:17cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
sync.item.dbid80659en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.06.09 00:57:43en
sync.item.modts2025.06.09 00:31:39en
thesis.disciplineFyzikální a materiálové inženýrstvícs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelDoktorskýcs
thesis.namePh.D.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 4 of 4
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
14.8 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
file final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
thesis-1.pdf
Size:
4.51 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
file thesis-1.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
Posudek-Oponent prace-Posudek_ZNovacek.pdf
Size:
128.41 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
file Posudek-Oponent prace-Posudek_ZNovacek.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_80659.html
Size:
1.27 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_80659.html
Collections