Interakce mezi SNOM hrotem a blízkým elektromagnetickým polem

Abstract

Vzájemná interakce mezi sondou pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli (SNOM) a blízkým elektromagnetickým polem je fundamentální problém, jehož řešení je nutnou podmínkou ke správné interpretaci experimentálních dat. Tato bakalářská práce si klade za cíl tento problém popsat rešeršní studií a pomocí precizní výroby vlastních SNOM sond napomoci k jeho vyřešení. K tomuto účelu je využíváno detekce rozložení blízkého pole generovaného interferencí povrchových plazmonových polaritonů (SPP) na čtvercových nanostrukturách. Touto studií byla prokázána citlivost SNOM sondy na jednotlivé komponenty blízkého pole v závislosti na velikosti SNOM apertury.Interaction between a probe for scanning near-field optical microscopy (SNOM) and near electromagnetic field is a fundamental problem, with its solution being a necessary condition for the correct interpretation of experimental data. This bachelor's thesis is aiming to thoroughly describe this problem and by precise manufacturing of our own SNOM probes help to reach solution of this problem. For this purpose, the detection of near-field generated by interference of surface plasmon polaritons (SPP) on square shape nanostructures is being used. This study has proven the dependence of SNOM probe sensitivity to near-field components on the size of a SNOM aperture.